涂层测厚仪_涂层测厚仪-上海凯美特功能陶瓷技术有限公司手机版

产品简介

超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪基于光谱反射原理，即在一定的波长光波下，通过追踪被带有层状结构的基片反射和/或投射的光束来实现测量膜层厚度。测量薄膜厚度范围可达1nm -1000 um。一般20ms可以得到测量结果。而且超高精度MProbe薄膜测厚仪尺寸非常小巧，8″x 4″x10″。超高精度超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪非常适合实验室，产品质量检测，研发使用。

详细介绍

l 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪连接方便，使用自如：不管实在实验室独立使用，还是在研发或者是工厂连续生产中不间断在线持续监测膜层厚度，都能在10分钟内完成安装，与电脑或是网络的连接十分方便

l 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪测量数据完整：除了膜层的厚度，还能测量光学参数和表面平整度

l 超高精度 MProbe有机薄膜厚度测量仪使用人性化，功能强大：一键式操作即可完成膜层厚度测量和分析；强大的工具-仿真功能，内部自我纠正，多样品测量，动态监测和产品批量监测.

产品尺寸	8″x 4″x10″
测量精度	<0.01nm or 0.01%
稳定性	<0.02nm or 0.03%
光斑尺寸	2mm to 3um
样品大小	可以小至1 mm
测量范围	1 nm - 1000 um
波长范围	200nm -8000nm