超高精度Mprobe 有机薄膜厚度测量仪基于光谱反射原理，即在一定的波长光波下，通过追踪被带有层状结构的基片反射和/或投射的光速来实现测量膜层厚度。测量薄膜厚度范围可达1nm-1000um.一般20ms可以得到测量结果。而且超高精度Mprobe薄膜测厚仪尺寸非常小巧，8＂x　4＂x　10＂．超过精度Mprobe 有机薄膜厚度测量仪非常适合实验室，产品质量检验，研发使用。

超高精度MProbe 有机薄膜厚度测量仪特点：

应用广泛：

（1）太阳能光伏薄膜领域：aSi,TCO,CIGS,CdS ,CdTe

（2）LCD,FPD领域：ITO ,Cell Gaps,Polyamides

（3）光学薄膜领域：光学涂层，介质滤波器，加硬膜，减反射膜

（4）半导体和电解质领域：氧化物，氮化物，OLED stack

实时测量和数据分析，多层，薄，厚，独立和不均匀层

丰富的材料库：已经有500多种常用的材料参数，新材料也容易添加，并能根据需要添加相应材料特性参数-Cauchy,Tauc- Lorentz,Cody-Lorentz,EMA 等。

灵活性：链接方便，使用自如：不管是在实验室独立使用，还是在研发或者是工厂连续生产中不间断在线持续监测膜层，都能在10分钟内完成安装，与电脑或是网络的连接十分方便。

测量数据完整性 除了膜层的厚度，还能测量光学参数和表面平整度。

使用人性化，功能强大 一键式操作即可完成膜层厚度测量和分析；强大的工具-仿真能力，内部自我纠正，多样品测量，动态监测和产品批量监测。