工业显微镜 ECLIPSE LV150NA和LV150N （纯反射型）

这一系列半导体显微镜采用纯反射照明，支持的镜检方式有：明场、暗场、微分干涉、偏光、荧光、双光束干涉，可搭载数码相机，常用于半导体、集成电路及其它各种材料的检查。

模块化设计、有电动型与手动型

采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机拍照；模块化设计，方便应对各种功能扩展。

尼康ECLIPSE LV150NA和LV150N

主要用于半导体、工业材料和零部件检查，以及产品研发。

尼康CFI60-2光学系列物镜

尼康的创新设计，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。

尼康Digital Sight数码相机

尼康全系列Digital Sight数码相机都能高效地进行拍照，并通过LV-ECON将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。

LV150N与NWL200联合使用

在半导体行业中得到广泛认可和信任，目前有许多装置在使用。

产品亮点

多种镜检方式

反射照明。可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）和微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉。

多种配件

有多种配件可供用户选择。

载物台、物镜、物镜转换器、目镜、目镜筒、数码相机、滤光片和偏光片等。

数字化智能通信

LV150NA和LV150N可以通过尼康的NIS-Elements软件，并通过LV-ECON E控制器操控电动物镜转换、光阑动作、照明亮度、电动调焦等。

LV150N可检查、报告LV-NU5I和LV-INAD上使用的物镜。

人体工程学设计

使用倾角可调的目镜筒，可使操作者更为舒适地观察样品，消除疲劳。

主要用于观察原材料、半导体和工业零部件。

核心功能

材料和半导体检查

示例应用包括半导体基板和器件封装、平板显示器（FPD）、电子元件和创新材料，可根据需要选择合理的镜检方式。

尺寸