VersaScan微区扫描电化学系统

VersaScan微区扫描电化学系统是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的，进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。它是提供给电化学及材料测试以*空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率，长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上，辅助选件包括，如电位计，压电振动单元，或者激光传感器，为不同扫描探针试验，定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起，由以太网来控制，保证小信号的精确测量。

它是一个模块化配置的系统，可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试：

• Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 扫描电化学显微镜

          -AC-SECM 无氧化还原介质扫描电化学显微镜

          -Stylus-Probe 柔性探针技术-等距离扫描电化学显微镜

• Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 扫描振动电极测试
• Scanning Kelvin Probe (SKP) 扫描开尔文探针测试
• Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微区电化学阻抗测试
• Scanning Droplet Cell (SDC) 扫描电解液微滴测试
• Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非触式光学微区形貌测试                                                   
• Ion Selective Probe (ISP) 表面离子浓度成像系统

以上每项技术使用不同的测量探针，且安装位置与样品非常接近，但是不接触到样品。随着探针测试的进行，改变探针的空间位置。然后将所记录的数据对探针位置作图，针对不同技术，该图可以呈现微区电化学电流，阻抗，相对功函或者是表面形貌图。

VersaSCAN SECM
Scanning ElectroChemical Microscopy 扫描电化学显微镜系统

VersaSCAN SECM 整合了定位系统、两台VersaSTAT恒电位仪和锥形抛光的超微电极探针为一体。SECM多样化的技术提供了高空间分辨率，可应用于反应动力学，生物传感器，催化剂和腐蚀机理等研究。

• 兼容恒电位仪:  VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。
• 可进行逼近曲线实验包含“反馈”模式和“发生-采集”模式两种成像模式。
• 结合了表面形貌测量技术，如典型的如非接触式微区形貌扫描系统OSP，可进行样品表面定距离扫描，
• VersaSTATs 配置不同功能的操作软件，能够提供强大的成套的非扫描电化学测试，取决于其*的软件模式。

VersaSCAN SVET
Scanning Vibrating Electrode Technique 扫描振动电极测量系统

VersaSCAN SVET 整合了定位系统及锁相放大器技术(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 压电振动模块, 电位计和单丝探针。 SVET技术测量溶液中的电压降。电解液中的电压降是由样品表面的局部电流所导致的。 SVET提供高分辨率可应用于不均匀腐蚀，点蚀，焊接和电耦合等。此外，SVET还有生物方面的应用。

• 锁相放大器:  Signal Recovery 7230
• 可进行线扫描和面扫描
• 当设定不同的测量时间测量，可进行时间分辨成像
• 结合了表面形貌测量技术，如典型的如非接触式微区形貌扫描系统OSP，可进行样品表面定距离扫描，

VersaSCAN LEIS
Localized Electrochemical Impedance System微区电化学阻抗测试系统

VersaSCAN LEIS 整合了 定位系统和VersaSTAT 3F 及差分电压选项, 静电计，双探头探针。 LEIS技术是通过测量施加于样品的交流电压和由探针所测量的溶液中交流电流的比值，来计算局部阻抗，LEIS加入高的空间分辨率，可应用于有机涂层，裸露的金属腐蚀，和所有和增加的交流技术相关的应用。

• 恒电位仪：VersaSTAT 3F及差分辅助选项
• 可进行固定频率/扫描位置的数据成像，和固定位置/扫描频率的Bode图或者Nyquist图。
• 当设定不同的测量时间测量，可进行时间分辨成像
• 结合了表面形貌测量技术，如典型的如非接触式微区形貌扫描系统OSP，可进行样品表面定距离扫描，

VersaSCAN SKP
Scanning Kelvin Probe 扫描开尔文探针系统

VersaSCAN SKP整合定位系统及锁相放大器技术(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 压电振动模块, 电位计和钨丝探针。SKP 技术测量探针和样品表面位置的相对功函差。这是一个非破坏的技术，可运行于环境气氛，潮湿气氛和无电解液情况下。相对功函已经被证实与腐蚀电位 (Ecorr)相关。SKP 提供的高空间分辨率可应用于材料，半导体，金属腐蚀，甚至这些材料上的涂层。

• 锁相放大器:  Signal Recovery 7230
• 可进行表面形貌测量，测量和设置探针和样品间的距离。
• 使用同一探针，结合所进行的表面形貌测量，进行样品表面定距离扫描。

VersaSCAN SDC
Scanning Droplet Cell电解液微滴扫描系统

VersaSCAN SDC 整合电位系统和一台VersaSTAT,  一个机械加工的PTFE 滴液系统头, 以及一个蠕动泵。SDC 技术对电解液微滴进行电化学测量, 固定电极/电解液界面的面积。SDC提供高空间分辨率可应用于动力学，腐蚀，流体研究和任何研究样品表面微小面积而无需破坏样品的应用或者控制面积在不同电解液中的暴露时间的应用。

• 恒电位仪: VersaSTAT 3 / 3F /4
• 可进行恒定电化学参数/位置扫描的数据成图和固定位置/动态信号的绘图，如循环伏安，塔菲尔, 电化学交流阻抗等。
• 可运行流动或者是静止的电解液液滴。

VersaSCAN OSP
Non-Contact Optical Surface Profiling
非触式光学微区形貌测试系统

VersaSCAN OSP整合定位系统和高精度，高速度激光位移传感器。 OSP 技术使用漫反射机理用于样品的表面形貌。OSP可作为非常灵敏水平的机制用于表面形貌测量，，或绘制地形图与其它扫描探针技术一起应用于样品表面定距离扫描测试。