光声无损膜厚仪

随着电子和纳米科学时代的兴起，电子元件的小型化已成为其几乎呈指数级性能的重要因素。将技术层和涂层减薄到纳米级，可以在各种领域取得进步。复杂的制造流程推动控制变得越来越准确。

光声无损膜厚仪为这些演变相关的许多问题提供了解决方案。缺陷检测现在在许多行业中非常必要，以避免在生产过程中遇到问题并提高质量水平。

我们使用的光声技术设计了光声无损测量系统。 技术源自法国CNRS 和波尔多大学的技术转让，它依靠激光、材料和声波之间的相互作用深入物质的核心。

我们的非破坏性和非接触式技术将光转换为声频超过100GHz 的声波。 目的在于表征涂层，例如不同类型材料的厚度和附着力。特别适用于测量从几纳米到几微米的薄层，无论是不透明的（金属、金属氧化物和陶瓷），还是半透明和透明的。 这种光学技术不受样品形状的影响。

产品特点

• 非破坏性和非接触式技术
• 薄膜的表征：厚度、附着力、热性能
• 快速且可重复的测量
• 超精密测量
• 许多材料可用
• 能检测的膜厚度从 2纳米～20微米
• 扫描方式：单点、XY扫描、表面声波
• 测样样品种类： 不透明、半透明、透明均可测试。
• 平坦和弯曲的样品均可

系统构成：

仪器使用两个同步的超快激光器。会产生大约100飞秒的不同波长的激光脉冲。使用这些脉冲进行非破坏性和非接触式测量。这些都集中在所研究的样品表面。

能使用的材料

广泛的材料及其在许多应用中的使用使这一材料方面变得非常必要。自产品问世以来，我们的技术已证明其有能力测量许多金属材料。也适用于陶瓷和金属氧化物，并且不受外形因素的影响。

无损检测 (NDT) 具体应用案例半导体行业

半导体行业为我们周围遇到的大多数电子设备提供了基本组件。它的制造需要在硅晶片上进行多次薄膜沉积。

问题？

在任何工艺过程中，不透明薄膜的沉积，无论是单层还是多层，都需要质量控制。无论是检测还是计量，厚度测量和界面表征都是确保其质量的关键问题。

我们的解决方案？
- 高速控制。
- 非破坏性和非接触式测量。
- 单层和多层厚度测量。

显示器行业

今天，不同的技术竞争主导显示器的生产，而显示器在我们的日常使用中无处不在。事实上，由于未来 UHD-8K 标准以及新兴柔性显示器的制造工艺，这个不断扩大的行业存在技术限制。

问题？

一个像素仍然是一堆薄层有机墨水、银、ITO……在这方面，控制薄层厚度的问题仍然存在。这些问题可能会导致最终产品出现质量缺陷。

我们的解决方案？
- 对此类层的*检查。
- 提取厚度的可能性。
- 非破坏性和非接触式厚度测量。

薄层沉积

无论是在航空工业还是科研制造领域，技术涂层都可用于增强高附加值部件中的某些功能。这些涂层的厚度随后成为确保目标性能的关键因素。

问题？

无论是法律限制还是技术限制，破坏性测试的采样方法通常提供不完整的答案。此外，由于形状因素、曲率等原因，很难控制3D作品。

我们的解决方案？
- 非破坏性和非接触式测试
- 快速测试厚度数据
- 现在可以进行在线生产控制