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荧光分光光度计之光谱测定

时间:2014-12-02      阅读:606

 

有效利用滤光器组件

 

  在表面光度测定中,由于光的散射效应,多重光(如次要光等)可能会干扰检测。
截止滤光器可有效抑制多重光。根据斯托克斯原理,与激发光相比,荧光可以通过更长波长测定。我们的截止滤光器正是利用了这一原理。
 
滤光器组件
  我们将通过分析*(粉末)获得的数据来说明截止滤光器的效果。使用滤光器(UV35)可消除光散射,把光引向探测器,以控制次要光的产生。  

 

   
  右图数据取自三维数据。从这二维数据上看,第二条光线正在被消除。  

有效使用光谱校正工具组件

 

  我们在此向您介绍光谱校正方法,以获得的光谱。荧光光度计的每个光源灯或探测器都有其各自的波长特性。
由于检测到的光谱数据通常带有上述仪器的波长特性,要获得真实的光谱,必须进行校正。我们在此向您展示一套光谱校正工具组件的检测效果。这套组件通常包括一份罗丹明B浓缩液和一个副标准光源。
 
光谱校正工具组件
  以下是通过分析*(粉末)获得的数据进行光谱校正后的效果。三维数据随光谱校正的有无发生变化,直观地说明了波长特性效果。  

 

   

 

   
  以上是文献数据和测定数据比较图。我们比较了NIST SRM 936a硫酸奎宁有光谱校正和没有光谱校正情况下的波长验证值。通过文献或其它仪器和光谱验证值的比较,同样可以说明光谱校正的效果。
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