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使用切片方式制备像纸张、纤维等软材料截面样品,容易使样品变形错位;机械抛光处理的样品表面经常也会留下划痕、污染和表面应力,对样品的形貌观察和结构分析带来不利影响。日立新推出的IM4000离子研磨仪既可以对样品进行氩离子截面切割,可以进行氩离子平面研磨,是截面样品制备和平面样品无应力抛光的理想工具。
日立高新离子研磨装置IM4000具有断面加工和平面研磨功能的混合仪器!
日立高新离子研磨装置IM4000的混合模式带有两种研磨配置:
断面加工:将样品断面研磨光滑,便于表面以下结构高分辨成像。
平面研磨:将样品表面均匀研磨5平方毫米,从不同角度有选择地研磨,以便突出样品的表面特性。
日立高新离子研磨装置IM4000的高通量能提高加工效率:
与之前的E-3500型相比,采用新型离子枪设计,减少了横截面研磨时间。(zui大加工率:硅元素为300微米/小时 — 加工时间减少了66%。
日立高新离子研磨装置IM4000的可拆卸样品台装置:为便于样品设置和定义研磨边缘,可将样品台装置拆卸。
日立高新离子研磨装置特点
混合模式:两种研磨配置
断面加工:将样品断面研磨光滑,便于表面高分辨观察
平面研磨:不同角度有选择地,大面积,均匀地研磨5 mm的平面,以突显样品的表面特性
高效:提高加工效率
与之前的E-3500型相比,采用新型离子枪设计,减少了横截面研磨时间
(zui大加工速度:硅材质为300 μm/h - 加工时间减少了66%)
可拆卸式样品台:
为便于样品设置和边缘研磨,样品台设计为可拆卸型
項目 | 内容 | |
平面研磨 | 截面研磨 | |
使用气体 | 氩气 | |
加速电压 | 0 ~ 6 kV | |
zui大加工速率(材料Si) | 约20 m/h*1 约2 m/h*2 | 约300 m/h*3 |
zui大样品尺寸 | φ50×25(H)mm | 20(W)×12(D)×7(H)mm |
样品移动范围 | X : 0 ~ +5 mm | X :±7 mm、Y : 0 ~ +3 mm |
旋转速度 | 1 r/min、 25 r/min | - |
摆动角度 | ±60°、±90° | ±15°、±30°、±40° |
倾斜角度 | 0~90° | - |
氩气(Ar)流量控制方式 | 质量流量计(Mass Flow Controller) | |
真空系统 | 涡轮分子泵(33 L/s)+机械泵(135 L/min(50 Hz)、162 L/min(60 Hz)) | |
装置尺寸 | 616(W)×705(D)×312(H)mm | |
重量 | 主机48 kg+机械泵28 kg | |
选配 | ||
加工观测用显微镜 | 倍率 :15× ~ 100× 双目型、三目型(可加装CCD) | |
真空转移盒单元 | 旋盖式(O形圈密封)密闭样品,样品仓内打开旋盖 | |
冷却系统*4 | 使用液氮间接冷却样品 ;冷却Mask温度 :-30℃以下*5 ;配有恢复到室温的控制器 |
*1 :照射角 0° 偏心量 0 mm *2 :照射角 60° 偏心量 4 mm *3 :Si片突出遮挡板(Mask)边缘100 m加工时的zui大深度 *4 :不能后装,需出厂时配置 *5 :加入液氮30分钟后遮挡板(Mask)的温度