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3D-tracking 单颗粒三维跟踪及纳米成像模块
面议Alba-STED FLIM/FFS 激光扫描荧光寿命成像系统
面议超快成像拉曼光谱仪-XploRA PLUS XS
面议多功能拉曼及成像光谱仪 LabRAM XploRA INV
面议HORIBA 高分辨拉曼光谱仪 HR Evolution
面议Orient KOJI 积分球荧光光谱仪
面议Orient KOJI 300℃高温荧光(热猝灭)分析仪
面议HORIBA 三维荧光/紫外吸收光谱仪
面议紫外可见近红外量子效率测量系统
面议BaySpec 台式红外拉曼光谱仪
面议HORIBA JY 智能型拉曼光谱仪- LabRAM XploRA ONE
面议显微荧光寿命(TCSPC)测试系统
面议Partica发展成就
推出的激光粒度仪产品,以精确可靠著称的HORIBA Partica LA-950V2已全新升级为LA-960。
HORIBA系列粒度仪以在亚微米范围内的测量能力而闻名,新型号除了保有这一优势还发展出全新的特性。
HORIBA依据多年经验,进一步完善数据运算方法,以不断满足用户对更高精度和更高分辨率的追求。
HORIBA新一代的技术决定了更优的性能
更宽的动态测量范围:0.01-5000微米
HORIBA在宽粒径范围测量方面优势明显,的光学布局,采用三维数据模拟生成散射光谱图,可以与充分考虑到光学组件参数影响的理论计算结果进行比较,从而选择的分析方法。
新的运算方法使得20nm的认证样品的测量成为可能(见下图)。
性能保证:
高精度 ±0.6%
标准依据ISO13320
可溯源支持
用户的品质
HORIBA一直专注于仪器最重要最关键部件的产品质量:光源和检测器校准。基于高科技研究实验室和质量控制管理等各种用户的需求,其循环系统效率高,操作快速,维护简便。同时我们根据用户预期用途,分析情况和操作频率的不同,提供专业的售后技术支持。
稳健可靠的光学设计
的光学系统确保高精度分析
60秒极速操作
循环系统能迅速处理任何样品