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　　飞纳扫描电镜以的微观检测能力被大家熟知，简单的操作、方便的测样、快速的成像以及友好的界面为飞纳带来了不少粉丝。其实，飞纳电镜除了强大的微观检测能力之外，它也有许多实用的可拓展功能。飞纳电镜的这些“三头六臂”让客户在进行微观分析时如虎添翼，今天就来谈一谈其中被很多人关注的 颗粒统计分析测量系统。
 

　　在检测粉末样品时，除了形貌观察，我们有时还有统计其粒径、圆度等的需求。如果我们依靠人工手动测量统计，会耗费很大的人力和时间。此时，如果有一款软件能基于微观形貌自动统计颗粒的具体信息，就会方便很多。
 

　　客户有需求，飞纳有方案 —— 颗粒统计分析测量系统应运而生
 

原理
 

　　扫描电镜只能进行“黑白”成像，而颗粒与周围背景 “亮度” 不一致，根据这一差异，系统会自动识别到颗粒。
 

　　检测方式
 

　　可以根据客户不同检测需求进行统计，比如融合颗粒的识别设置(图1)、覆盖颗粒是否统计(图2)、不完整颗粒是否统计(图3)、小识别颗粒尺寸(图4)等等。
 

图 1
 

图 2
 

图 3
 

图 4
 

　　统计结果
 

　　颗粒统计分析测量系统会把识别到的颗粒一一列出来，操作员可以根据需求可以删除不满意颗粒。其次，系统会把每一个颗粒的具体信息统计出来，比如面积、等效圆直径、长轴长度、短轴长度等，全面地了解样品。
 

　　当获得了满意的统计结果之后，还可以根据需要生成散点图、折线图等统计图表(横纵坐标自主确定)，并自动生成统计报告，颗粒统计结果一目了然。