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　　【仪器网 行业应用】扫描透射电子显微镜既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描，通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。
 

　　仪器优点：
 

　　1、利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。
 

　　2、利用扫描透射模式时物镜的强激励，可以实现微区衍射。
 

　　3、利用后接能量分析器的方法可以分别收集和处理弹性散射和非弹性散射电子。
 

　　4、进行高分辨分析、成像及生物大分子分析。
 

　　应用领域：
 

　　1、扫描电镜追求固体物质高分辨的形貌，形态图像(二次电子探测器SEI)-形貌分析(表面几何形态，形状，尺寸)
 

　　2、显示化学成分的空间变化，基于化学成分的鉴定---化学成分像分布，微区化学成分分析
 

　　(1)用x射线能谱仪或波谱采集特征x射线信号，生成与样品形貌相对应的，元素面分布图或者进行定点化学成分定性定量分析，相鉴定。
 

　　(2)利用背散射电子BSE)基于平均原子序数(一般和相对密度相关)反差，生成化学成分相的分布图像；
 

　　(3)利用阴极荧光，基于某些痕量元素(如过渡金属元素，稀土元素等)受电子束激发的光强反差，生成的痕量元素分布图像。
 

　　(4)利用样品电流，基于平均原子序数反差，生成的化学成分相的分布图像，该图像与背散。
 

　　(5)利用俄歇电子，对样品物质表面1nm表层进行化学元素分布的定性定理分析，
 

　　3、在半导体器件(IC)研究中的特殊应用：
 

　　(1)利用电子束感生电流EBIC进行成像，可以用来进行集成电路中pn结的定位和损伤研究
 

　　(2)利用样品电流成像，结果可显示电路中金属层的开、短路，因此电阻衬度像经常用来检查金属布线层、多晶连线层、金属到硅的测试图形和薄膜电阻的导电形式。
 

　　(3)利用二次电子电位反差像，反映了样品表面的电位，从它上面可以看出样品表面各处电位的高低及分布情况，特别是对于器件的隐开路或隐短路部位的确定尤为方便。
 

　　4、利用背散射电子衍射信号对样品物质进行晶体结构(原子在晶体中的排列方式)，晶体取向分布分析，基于晶体结构的相鉴定。