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　　仪器简介：
　　
　　集天瑞多年贵金属检测技术的经验，EDX600B使用高效而实用的正比计数盒探测器，以满足贵金属的成分测试和镀层厚度测量的要求。二维的软件控制移动平台和激光定位装置，使样品上测试点的选择更方便和准确；功能齐全的测试软件、友好的操作界面，使测试工作轻松完成。
　　
　　技术参数：
　　
　　元素分析范围：从钾（K）到铀（U）
　　
　　测量对象：固体、液体、粉末
　　
　　测量精度:0.05%
　　
　　分析检出限：可达1ppm
　　
　　分析含量：一般为1ppm－99.9％
　　
　　多次测量重复性：0.1％
　　
　　*工作稳定性：0.1％
　　
　　温度适应范围：15℃－30℃
　　
　　测量湿度：≤70％
　　
　　测量时间：60－300秒
　　
　　电源：交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源)
　　
　　主要特点：
　　
　　专业贵金属检测、镀层厚度检测
　　
　　内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
　　
　　一次可同时分析24个元素
　　
　　针对不同样品可自动切换准直器
　　
　　智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰
　　
　　任意多个可选择的分析和识别模型
　　
　　相互独立的基体效应校正模型
　　
　　多变量非线性回收程序