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SMX-1000/1000L X射线微焦点透视检查设备                                                       
 

　　仪器简介：                                                                                                                  
 

　　可用于高密度封装基板和BGA、CSP、系统LSI等键和情况的高倍率非破坏透视检查，特别适合于IC封装检查、元器件生产和PCBA等产品。另外，SM-1000L适合于检查大尺寸基板和连续检查大量零部件。                                            
                                                                          

　　主要特点：                                                                                 
 

　　SMX-1000/1000L X射线微焦点透视检查设备是操作简便灵敏实用的多功能小型X-ray检测设备，采用了FPD(数字式平板检测器)和密封式微焦X-射线管的组合结构，可以观察到没有变形和重影且清晰的图像。另外，新开发的应用软件可以对样品根据检查需要的进行条件设定，使操作更为简便，从而大大提高检查效率。各种完备的功能使操作更加简便。