室温扫描探针显微镜UHV AFM/STM
产品简介
详细信息
UHV AFM/STM是多用途的扫描探针显微镜，专为室温超高真空实验而设计。
该产品同时具备STM和AFM功能，后者包括可以同时检测横向力（摩擦力）的接触式AFM和非接触模AFM。自1993年起，超过200台该类产品已在世 界各地成功交付和安装。科学家Barth等人[1]采用Omicron NanoScience的UHV STM/AFM的非接触模式在世界上*观察的到了绝缘体（AL2O3（0001））表面的原子像。
[1] C. Barth et.al. Nature 414, 54 (2001)