仪器网

Formtracer SV-C3200/4500

525系列－表面粗糙度和轮廓测量系统

机台特点：

表面粗糙度测量功能

●高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。

  Z1轴的显示分辨力为0.0001μm（测量范围为8μm时）。

●X轴内置高精度玻璃光栅尺，直接读取X轴移动距离，

  在高精度精准定位下，完成间距参数的评价。

●检出器测力有4mNt 0.75mN可选。

  轮廓测量功能

●Z1轴（检出器）上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读

  取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使Z1轴测

  量范围增大了10mm同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此

  接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。

●专为CV-4500系列增加了以下两大特性：

  (1)装配双面测针，实现垂直方向（上/下）连续测量，

  所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。

  (2)测力可在FORMTRACEPAKL软件中设置。无需调整配重位置。

●的表面粗糙度/轮廓FORMTRACEPAK分析程序，

  通过简单的操作就能进行高级分析并即刻输出结果。

●表面粗糙度测试仪和轮廓测量仪结合在一起，节省安装空间。