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测量/计量仪器表面测量仪器轮廓仪

Marsurf 计算机式轮廓度测量仪

供应商:
万荣科信(北京)测控技术有限公司
企业类型:
其他

产品简介

MARSURFXC2MITCD120轮廓测量站精密轮廓测量的入门选择快速、简单且经济的2D轮廓测量系统,可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求一致地提供安全且可靠的结果更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算

详细信息

MARSURF XC 2 MIT CD 120 轮廓测量站

精密轮廓测量的入门选择
  1. 快速、简单且经济的 2D 轮廓测量系统,可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求
  2. 一致地提供安全且可靠的结果
  1. 更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。
  2. 密码保护用户访问权限,避免不当使用
  3. 出色的校准流程,包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等
  4. 稳定、坚固的测头
  5. 平滑运行,稳定而准确的驱动装置
  6. 根据各种调整速度自动降低和抬高测杆
  7. 测杆固定技术,防碰撞保护
  1. 技术数据
接触速度(Z 方向) 0.1 至 1 mm/s
测杆长度 175 mm, 350 mm
测量速度 0.2 mm/s 至 4 mm/s
针尖半径 25 µm
扫描长度末尾(X 方向) 120 mm
分辨率 Z 方向,相对探针针头:0.38 µm(350 mm 测杆)/ 0.19 µm(175 mm 测杆)
在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 µm
扫描长度开始(X 方向) 0.2 mm
取样角 在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77°
导块偏差 < 1 µm(超过 120 mm)
定位速度 X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s
测量范围 mm (Z 方向)50 mm
扫描长度 0.2 mm 至 120 mm
测量力 (N) 1 mN 至 120 mN
 
 
 
 
 
 
MARSURF CD 280 轮廓测量站

将轮廓测量提升至新的层面

Mahr 全新的 MarSurf CD 系列站在轮廓测试领域确立了新的。全新的 MarSurf CD 系列让制造公司进入新的层面,能够在测量室或邻近生产环境中可靠地保障和提升工件的制造质量。
新测量站概念综合了速度、可靠性和灵活性。其目标是提高贵公司系统的利润。
创新的技术:

             快速测轴
  1. X 方向定位速度高达 200 mm/s
  2. 是前代 MarSurf PCV 和 MarSurf CD 120 速度的 25 倍以上
  3. 此系列所有测量站都有全功能 CNC Z 轴
  4. Z 轴速度约是 Mahr 旧型号 Z 轴的两倍
  5. 是市场上常见的 X 轴速度的 5 倍以上
           高度灵活的智能测头系统          
  1. 通过集成芯片识别测杆
  2. 标准测量范围高达 70 mm;490 mm 测杆时 100 mm
  3. 磁性测杆底板,更换测杆无需工具
  4. 测头系统耐用且灵活
  5. 可选:可以扩展粗糙度评定
             创新的工件固定系统
  1. 安装板 390 x 430 mm,孔尺寸 50 mm
  2. 集成 60 mm TY 调整
  3. 安装板和集成 TY 调整的组合使您不再需要额外的 XY 工作台
  4. 较少的工件设置可实现较短的测量循环,因此带来测量结果
  1. 技术数据
  MarSurf CD 280 MarSurf CD 140
测杆长度 210 mm; 350 mm; 490 mm 210 mm; 350 mm; 490 mm
测量速度 0.02 - 10 mm/s 0.02 - 10 mm/s
扫描长度末尾(X 方向) 280 mm 140 mm
分辨率 6 nm(210 mm 测杆) 6 nm(210 mm 测杆)
扫描长度开始(X 方向) 0.1 mm 0.1 mm
导块偏差 0,35  µm  /   60 mm
0,4     µm / 140 mm
0,75     µm / 280 mm
0.35 µm / 60 mm
0.4 µm / 140 mm
定位速度 0.02 - 200 mm/s (X) 0.02 - 200 mm/s (X)
测量范围 mm 70 mm(Z 方向,350 mm 测杆)
100 mm(490 mm 测杆)
70 mm(Z 方向,350 mm 测杆)
100 mm(490 mm 测杆)
测量力 (N) Z+ 和 Z- 方向 4 mN 至 30 mN,可通过软件调整 Z+ 和 Z- 方向 4 mN 至 30 mN,可通过软件调整
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