Marsurf 计算机式轮廓度测量仪
产品简介
详细信息
精密轮廓测量的入门选择
- 快速、简单且经济的 2D 轮廓测量系统,可满足精度和评估标准范围相关的各方面需求
- 一致地提供安全且可靠的结果
- 更换基准元件后可立即对基准元件相关的参数重新计算。
- 密码保护用户访问权限,避免不当使用
- 出色的校准流程,包括几何形状校准、测量力校准、弯曲补偿等等
- 稳定、坚固的测头
- 平滑运行,稳定而准确的驱动装置
- 根据各种调整速度自动降低和抬高测杆
- 测杆固定技术,防碰撞保护
- 技术数据
接触速度(Z 方向) | 0.1 至 1 mm/s |
测杆长度 | 175 mm, 350 mm |
测量速度 | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
针尖半径 | 25 µm |
扫描长度末尾(X 方向) | 120 mm |
分辨率 | Z 方向,相对探针针头:0.38 µm(350 mm 测杆)/ 0.19 µm(175 mm 测杆) 在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 µm |
扫描长度开始(X 方向) | 0.2 mm |
取样角 | 在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77° |
导块偏差 | < 1 µm(超过 120 mm) |
定位速度 | X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s Z 方向:0.2 至 10 mm/s |
测量范围 mm | (Z 方向)50 mm |
扫描长度 | 0.2 mm 至 120 mm |
测量力 (N) | 1 mN 至 120 mN |
MARSURF CD 280 轮廓测量站
将轮廓测量提升至新的层面
Mahr 全新的 MarSurf CD 系列站在轮廓测试领域确立了新的。全新的 MarSurf CD 系列让制造公司进入新的层面,能够在测量室或邻近生产环境中可靠地保障和提升工件的制造质量。
新测量站概念综合了速度、可靠性和灵活性。其目标是提高贵公司系统的利润。
创新的技术:
快速测轴
- X 方向定位速度高达 200 mm/s
- 是前代 MarSurf PCV 和 MarSurf CD 120 速度的 25 倍以上
- 此系列所有测量站都有全功能 CNC Z 轴
- Z 轴速度约是 Mahr 旧型号 Z 轴的两倍
- 是市场上常见的 X 轴速度的 5 倍以上
- 通过集成芯片识别测杆
- 标准测量范围高达 70 mm;490 mm 测杆时 100 mm
- 磁性测杆底板,更换测杆无需工具
- 测头系统耐用且灵活
- 可选:可以扩展粗糙度评定
- 安装板 390 x 430 mm,孔尺寸 50 mm
- 集成 60 mm TY 调整
- 安装板和集成 TY 调整的组合使您不再需要额外的 XY 工作台
- 较少的工件设置可实现较短的测量循环,因此带来测量结果
- 技术数据
MarSurf CD 280 | MarSurf CD 140 | |
测杆长度 | 210 mm; 350 mm; 490 mm | 210 mm; 350 mm; 490 mm |
测量速度 | 0.02 - 10 mm/s | 0.02 - 10 mm/s |
扫描长度末尾(X 方向) | 280 mm | 140 mm |
分辨率 | 6 nm(210 mm 测杆) | 6 nm(210 mm 测杆) |
扫描长度开始(X 方向) | 0.1 mm | 0.1 mm |
导块偏差 | 0,35 µm / 60 mm 0,4 µm / 140 mm 0,75 µm / 280 mm | 0.35 µm / 60 mm 0.4 µm / 140 mm |
定位速度 | 0.02 - 200 mm/s (X) | 0.02 - 200 mm/s (X) |
测量范围 mm | 70 mm(Z 方向,350 mm 测杆) 100 mm(490 mm 测杆) | 70 mm(Z 方向,350 mm 测杆) 100 mm(490 mm 测杆) |
测量力 (N) | Z+ 和 Z- 方向 4 mN 至 30 mN,可通过软件调整 | Z+ 和 Z- 方向 4 mN 至 30 mN,可通过软件调整 |