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测量/计量仪器表面测量仪器粗糙度仪

Marsurf 计算机式粗糙度轮廓测量仪

供应商：
万荣科信（北京）测控技术有限公司
企业类型：
其他

产品简介

MARSURFVD280粗糙度和轮廓测量站MarSurfVD系列-补充MarSurf系列：粗糙度和轮廓跟踪系统之间方便更换操作员可根据测量任务更换测量表面粗糙度的BFW粗糙度测头系统，或测量轮廓的C11轮廓测头系统（可热插拔）

详细信息

MARSURF VD 280 粗糙度和轮廓测量站

MarSurf VD 系列 - 补充 MarSurf 系列：
粗糙度和轮廓跟踪系统之间方便更换

操作员可根据测量任务更换测量表面粗糙度的 BFW 粗糙度测头系统，或测量轮廓的 C 11 轮廓测头系统（可热插拔）。新系统的优势是结合了高度灵活的 C 11 轮廓测头系统和高精密 BFW 测头系统，特别适合精细表面。

新测量站概念综合了速度、可靠性和灵活性。
其目标是提高贵公司系统的利润。
测量站使用用户友好的 MarWin 软件操作（MarWin Easy Roughness & Contour 或 MarWin Professional Roughness & Contour）。

创新的技术：

快速测轴
  1. X 方向定位速度高达 200 mm/s
  2. 轮廓测量是前代 MarSurf PCV 或 MarSurf CD 120 速度的 25 倍
  3. 表面测量是 MarSurf GD 120 速度的 40 倍
  4. Z 轴默认有全部 CNC 功能
  5. Z 轴速度约是 Mahr 旧型号 Z 轴的两倍
  6. 是市售标准 Z 轴的 5 倍
两个参考测头系统帮助您完成测量任务

轮廓测头系统 C 11
  1. 通过集成芯片识别测杆
  2. 标准测量范围高达 70 mm；100 mm，490 mm 测杆长
  3. 磁性测杆支架，更换测杆无需工具。 
  4. 触摸测头耐用且灵活 
  5. 可选：可将粗糙度值测定扩展到轮廓

粗糙度测头系统 BFW
  1. 测杆更换简单，通过磁性测杆支架保护测杆
  2. 借助测杆底板，无需工具或适配器即可将标准测量换成横向测量
  3. 测头系统可以扩展

创新的工件固定系统
  1. 安装板 390 x 430 mm，孔尺寸 50 mm
  2. 集成 60 mm TY 调整
  3. 安装板和集成 TY 调整的组合使您不再需要额外的 XY 工作台
  4. 较低的工件设置有利于短测量循环，这对测量结果有积极影响
  1. 技术数据
  MarSurf VD 280 MarSurf VD 140
测量速度 10 mm/s 10 mm/s
扫描长度末尾（X 方向） 280 mm 140 mm
扫描长度开始（X 方向） 0 mm 0 mm
导块偏差 0.07 µm / 20 mm（带测头系统 BFW 250）
0.35 µm / 60 mm
0.4 µm / 140 mm		 0.07 µm / 20 mm（带测头系统 BFW 250）
0.35 µm / 60 mm
0.4 µm / 140 mm
定位速度 0.02 - 200 mm/s (X) 0.02 - 200 mm/s (X)
测量范围 mm 带测头系统 BFW 250
500 µm (±250 µm)，用于 45 mm 测针长度
1500 µm (±750 µm)，用于 135 mm 测针长度

带测头系统 C 11
70 mm，测杆长 350 mm
100 mm，测杆长 490 mm		 带测头系统 BFW 250
500 µm (±250 µm)，用于 45 mm 测针长度
1500 µm (±750 µm)，用于 135 mm 测针长度

带测头系统 C 11
70 mm，测杆长 350 mm
100 mm，测杆长 490 mm

 
 
MARSURF UD 130 综合性轮廓和表面测量站

MarSurf UD 130
MarSurf UD 130 通过两个驱动单元解决方案 MarSurf LD 130 / LD 260 和新标准组合测量站 MarSurf VD 140 / 280 之间的空白。MarSurf UD 130 的技术规格是以高质量的干涉测头系统为基础，测量和定位速度快，可以减少每个工件的测量时间。
  1. 技术数据
测量速度 0.1 mm/s 至 5 mm/s；
用于粗糙度测量
建议 0.1 mm/s 至 0.5 mm/s
扫描长度末尾（X 方向） 130 mm
分辨率 2 nm
扫描长度开始（X 方向） 0.1 mm
定位速度 0.1 mm/s 至 30 mm/s
测头 标准测头 LP-D 14-10-2/60 度
测量范围 mm 10 mm（100 mm 测杆）
20 mm（200 mm 测杆）
轮廓分辨率 2 nm
扫描长度 0.1 mm 至 130 mm
测量力 (N) 1 mN 至 30 mN，可软件调整
 
 
MARSURF LD 130 综合性轮廓和表面测量站

MarSurf LD 130 / LD 260。迈向新维度
Mahr 计量的技术实现一步完成轮廓和粗糙度测量。MarSurf LD 130 和 MarSurf LD 260 测量站在代设备经验的基础上，又经过系统化的设计。
  1. 一步完成粗糙度和轮廓测量
  2. 高测量和定位速度可大幅减少测量时间
  3. 删除创新的测头系统
  4. 快速可靠的测杆更换，磁性支架同步检测测杆
  5. 长测量长度，高达 260 mm (MarSurf LD 260)，测量行程 13 mm（100 mm 测杆长度）或 26 mm（200 mm 测杆长度）
  6. 模块结构，方便维护
  7. 维护时无需拆卸测量立柱
  1. 技术数据
测量速度 0.02 mm/s 至 10 mm/s；
粗糙度测量
推荐 0.1 mm/s 至 0.5 mm/s
扫描长度末尾（X 方向） 130 mm
分辨率 0.8 nm
扫描长度开始（X 方向） 0.1 mm
定位速度 0.02 mm/s 至 200 mm/s
测量范围 mm 13 mm（100 mm 测杆）
26 mm（200 mm 测杆）
扫描长度 0.1 mm - 130 mm
测量力 (N) 0.5 mN 至 30 mN，软件可调

 
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