Marsurf 计算机式表面粗糙度测量仪
产品简介
详细信息
MarSurf GD:面向粗糙度和波纹度测量的新型参考测量站
MarSurf GD 系列的新 Mahr 测量站设立了新标准。除了表面粗糙度评定，还可执行轮廓和波纹度评定。新的 MarSurf GD 系列让制造公司进入新的层面，能够在测量室中或生产环境附近可靠地保障和提升工件的制造质量。
新测量站概念综合了速度、安全性和灵活性。其目标是提高贵公司系统的成本效益。
测量站使用用户友好的 MarWin 软件操作（MarWin EasyRoughness 或 MarWin ProfessionalRoughness）。
创新的技术：
快速测轴
- X 方向定位速度高达 200 mm/s
- 是前代 MarSurf GD 120 速度的 40 倍
- Z 轴默认有全部 CNC 功能
- Z 轴速度约是 Mahr 旧型号 Z 轴的两倍
- 是市售标准 Z 轴的 5 倍
- 通过 Z 轴接触和调零
BFW 测头系统使用灵活的新测头系统接口
- 测杆更换简单，通过磁性测杆支架保护测杆
- 借助测杆支架，无需工具或适配器即可将标准测量换成横向测量。
- 可以扩展触摸测头
创新的工件固定系统
- 安装板 390 x 430 mm，孔尺寸 50 mm
- 集成 60 mm TY 调整
- 安装板和集成 TY 调整的组合使您不再需要额外的 XY 工作台
- 较低的工件设置有利于短测量循环，这对测量结果有积极影响
- 技术数据
| MarSurf GD 280 | MarSurf GD 140 | |
| 测杆长度 | 45 mm (x 1) 67.5 mm (x 1,5) 90 mm (x 2) 112.5 mm (x 2,5) 135 mm (x 3) | 45 mm (x 1) 67.5 mm (x 1,5) 90 mm (x 2) 112.5 mm (x 2,5) 135 mm (x 3) |
| 测量速度 | 10 mm/s | 10 mm/s |
| 扫描长度末尾（X 方向） | 280 mm | 140 mm |
| 分辨率 | 测量范围 1：7.6 nm 测量范围 2：0.76 nm | 测量范围 1：7.6 nm 测量范围 2：0.76 nm |
| 扫描长度开始（X 方向） | 0 mm | 0 mm |
| 导块偏差 | 0.07 µm / 20 mm 0.2 µm / 60 mm 0.4 µm / 140 mm | 0.07 µm / 20 mm 0.2 µm / 60 mm 0.4 µm / 140 mm |
| 定位速度 | 0.02 - 200 mm/s (X) | 0.02 - 200 mm/s (X) |
| 测量范围 mm | 500 µm (±250 µm)，用于 45 mm 测针长度 1500 µm (±750 µm)，用于 135 mm 测针长度 | 500 µm (±250 µm)，用于 45 mm 测针长度 1500 µm (±750 µm)，用于 135 mm 测针长度 |