普通型测量显微镜
产品简介
详细信息
用途:
107J普通型测量显微镜采用透、反射的方式对工件长度和角度作精密测量。特别适用于电子行业,机械精加工。用来测量电子线路的宽度和精细小工件的几何尺寸,以及其它精密零件测。广泛地适用于计量室,生产作业线以及科学研究等部门。
测量显微镜107JA数显型配有高精度的工作平台和高精度的数显测微头。从而保证仪器的高精度性,是一种理想的多用途的小型精密测量仪器。
技术参数:
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镜筒 | 粗 动 | 调节范围 90 mm | ||
微 动 | 调节范围 2 mm | |||
高(Z)测量 | 1毫米zui小读数0.001 mm(干分表读数) | |||
镜 筒 | 双目镜筒 俯角45° | |||
工作台 | 左右(X轴) | 移动范围50 mm | ||
前后(Y)轴 | 移动范围50 mm | |||
数显分辩率 | 1 um | |||
测量精度 | 1 um | |||
旋 转 | 360° | |||
照明系统 | 光源 | 透射照明 | 8V-15W 蓝、绿滤色片 | |
反射照明 | 8V-12W 磨砂灯泡 绿色滤色片 | |||
斜照明 | 8V-15W | |||
电 源 | AC 220V±10% 50/60HZ | |||
光学系统 | 目 镜 | BWF 10X | ||
物 镜 | 4X 工作距离:17.5mm | 焦距:28.8mm | ||
10X 工作距离:11.6mm | 焦距:15.4mm | |||
40X 工作距离:0.66mm | 焦距:4.4mm |
其他说明:
本系列测量显微镜采用高精度的工作平台。操作方便,可靠性强。仪器放大倍数高,工作台除作X,Y坐标的移动外,还可以作360°的旋转,亦可以进行高度方向Z坐标的测量。照明系统除作透、反射照明外,还可作斜光线照明。
注:107JA是采用107J主机,在107J主机上配备了高精密测微头. 数显分辩率:0.001mm
仪器选配件:1.其它相关附件 2.二维测量软件(GM-2000M) 3.动态检测软件(GM-2000V)