快速温变热流仪
产品简介
详细信息
产品用途
本设备适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB电路板IC光通讯(如收发器transceiver高低温测试、SFP光模块高低温测试等)、电子行业等进行IC特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。
符合标准
1.GB/T 2423.1-2008试验A:低温试验方法;
2.GB/T 2423.2-2008试验B:高温试验方法;
3.GB/T2423.22-2012试验N:温度变化试验方法
4.GJB/150.3-2009高温试验
5.GJB/150.4-2009低温试验
6.GJB/150.5-2009温度冲击试验