三维光学轮廓仪NPFLEX
产品简介
详细信息
布鲁克是三维表面计量与检测的，提供快速快速的非接触式三维轮廓表征方案。样品小至显微视场下的MEMS结构，大到完整的机械引擎。我们的光学轮廓仪基于Wyko®专有核心技术，历经十代积累，提供了其他测量系统无法企及的高精度与稳定性。在今日，这些正成为精密表面三维测量的主流应用场景。
三维光学轮廓仪NPFLEX ，针对大样品设计的非接触测试分析系统
1）灵活测量大尺寸、特殊角度的样品，其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度样品
- 创新性的空间设计使得可测零件（样品）更大、形状更多；
- 开放式龙门、客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位。
通常情况下，测量比较大的样品或者特殊形状、特定表面的样品时，往往花费较长的时间对样品进行切割处理，才可进行测量。如今，开发出新型的NPFLEX测量系统，拥有超大测量空间，可测13英寸，这种创新性的空间设计，可以测量更大尺寸、更复杂形状的样品。开放式龙门、定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位。开放式结构与Bruker的头部调节 tip/tilt测量头，包含理想的数值孔径及实现了更长的工作距离下测量。这使得NPFLEX善于测量深沟，高纵横比的孔洞，或表面高低起伏比较大的样品。
2）高效的纳米级分辨率的三维表面信息测量
- 每次测量均可获得完整表面信息，并可用于多种分析目的；
大家对很多样品的表面性质感兴趣，但是要获得这些品性质，需要检测大量的样品表面定量信息。许多应用在航空航天，汽车，医疗植入产业的大尺寸样品，往往只能借助于二维接触式检测工具进行表征，获得的只是一条线测量数据。二维扫描能够提供样品的表面轮廓，但是无法深入研究样品表面更精确的纹理细节信息。
- 更容易获得更多的测量数据来帮助分析
NPFLEX测试系统采用白光干涉原理，在每一个测量点可以实现表面形貌的三维信息收集，且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针曲率半径的局限，高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果，更多的测量数据来帮助分析样品性质。
3）垂直方向亚纳米分辨率提供更多的细节
- 干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率；
- 工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提
供保障。
4）快速获取测量数据，测试过程迅速高效
- 最少的样品准备时间和测量准备时间；
NPFLEX三维测量系统，能够灵活高效的获取大量测试数据。大大缩短了样品制备时间和测量方案设置时间，操作者可以快速更换样品，而且无需全面掌握样品形状和表面形貌的前提下，对样品的不同表面进行测量。仅需要不到15秒的时间，就可以出色地完成一个测量点的数据采集和分析工作
- 比接触法测量（一条线）更大的视场（一个面）获得表面更多的数据
NPFLEX采用非接触式测量技术，具有的开放式大样品台和直观迅速的分析软件来表征样品的表面纹理，光洁度，粗糙度，弯曲度，坡度，和许多其他特征，测量数据精度高达埃级。该系统提供了面的计量平台，可用于大型精密加工部件的表面特性表征。
5）品质，坚固耐用
NPELEX整体设计坚固耐用,大理石机台可以承受最重高达170磅的重量。开放式龙门设计可以灵活性测量表征更大的面型和更难测的角度。客户定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松的转换测量方向,表征样品的不同位置。在实验过程中,使用NPFLEX,对于样品大小,取样过程以及实验环境的要求,都相对宽松很多,使得实验可以灵活简便的完成,帮助生产者获得产品性质的精密数据。
6）为客户量身订做最合适的仪器配置
NPFLEX在基本配置的基础上，还有很多备选的配件和配置方满足不同客户的测量需求：
- 可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位,测量样品的侧壁、倾斜表面以及斜面边缘，重复性好。
- 获得研发大奖的透过透明介质测量模块(ThroughTransmissive Media, TTM)模块,结合环境测试腔,可以穿透5cm厚的色教材料,可对样品进行加热或者冷却,进行原位测量。
- 可选的折叠镜头能够测量碗状样品的侧壁和底部孔洞。
相关图片
1）NPFLEX 通用零部件夹具装置
2）NPFLEX 使用 Phi 样品旋转配置执行测量
3）Vision64 用户界面上显示的三维打印零部件表面粗糙度分析结果