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CSPM8000工业大尺寸样品扫描探针显微镜
- 供应商:
- 广州市本原纳米仪器有限公司
- 企业类型:
- 其他
工业大尺寸样品原子力显微镜/扫描探针显微镜具有完整自主知识产权的工业大尺寸样品扫描探针显微镜
工业大尺寸样品
原子力显微镜/扫描探针显微镜
- 具有完整自主知识产权的工业大尺寸样品扫描探针显微镜,探针扫描,满足超大、超重样品的检测需求
- 系统功能集成了原子力显微镜、横向力显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜、压电响应力显微镜、扫描开尔文探针显微镜和纳米加工等功能
- 具有接触模式、轻敲模式、相移成像模式、横向力(摩擦力)模式、抬起模式等多种工作模式和力-距离(F-Z)曲线、振幅-距离(RMS-Z)曲线、相移-距离(Phase-Z)曲线、摩擦力回路曲线、摩擦力载荷曲线、摩擦力恒载荷等测量分析功能
- 检测头轻量化设计,结构刚性和固有频率高,有效提升了扫描探针组件的稳定性
- 探头对称结构设计,针尖固定于支承横梁中点,能有效抑制环境温度波动导致热漂移
- 采用电容传感器的闭环压电扫描台,扫描的非线性和正交自动校正
- 标准的12吋(300mm)样品真空吸盘,吸盘具有软件控制的多道真空吸轨,无需手动操作开关阀门,自适应2吋、3吋、4吋、6吋、8吋、10吋和12吋的不同规格的晶圆吸附固定
- 高分辨辅助光学显微定位,实时观测与定位探针以及样品扫描区域
- 一次扫描技术,图像分辨高达4096×4096物理象素,微米级扫描即可得到纳米级的实际信息
- 控制系统采用TI的DSP+RAM双核信号处理器,内置二代的实时操作系统spm/DNA,全数字控制
- PID反馈算法实现快速高精度作用力控制,确保系统在高速扫描中稳定成像,实际扫描速度提升一个数量级,多重针尖保护技术,有效延长探针使用寿命
- 系统采用10M/100M快速以太网(Fast Ethernet 10/100)或USB3.0与计算机连接
- 主控机箱前面板具有16×4液晶显示屏,实时显示系统当前状态
- 具备实时在线三维图像显示功能,便于用户在检测过程中随时直观获得样品信息
- 具有简体、繁体和英文三种语言版本的在线控制软件和后处理分析软件,基于Windows 10系统开发,兼容Windows 11/8/7/Vista/XP全系列操作系统
- 具备双向扫描(Trace-Retrace)、往返扫描、线扫描等多种扫描模式,并具备自动更新扫描图像亮度、对比度功能
技术参数
- 系统功能:原子力显微镜、横向力显微镜、磁力显微镜、静电力显微镜、压电响应力显微镜、扫描开尔文探针显微镜和纳米加工等功能
- 工作模式:接触模式、轻敲模式、相移模式、抬起模式(支持磁力和静电力模式)、纳米加工(图形化刻蚀、压痕/机械刻画,矢量扫描)
- 样品尺寸:直径12吋(300mm)/ 厚度30mm / 质量15kg
- 样品固定方式:300mm真空吸附样品台,自动适应各种尺寸晶圆的全软件控制的多道真空吸轨,无需手动操作开关阀门
- 进针模式:一键式全自动探针逼近,逼近精度:50nm/step
- 检测定位方式:软件控制的行程300mm /精度5um二维工作台,12吋无盲区精确自动定位
- 扫描范围:闭环100um×100um,传感器:电容传感器,闭环分辨率:优于0.5nm,线性度:优于0.02%