日立原子力显微镜工作站
产品简介
详细信息
标准配备改良过的测量参数自动调整功能，以及简单明了的图形用户界面。因此，即使是刚刚接触SPM的人，或者测量某种全新的样品时，也能取得具有较高再现性的数据。
1. RealTune®II 的测量参数自动调整功能
· 提升的测量参数自动调整功能！
此系列开发出一种全新的处理方法，可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数。其通过对样品表面的形状、扫描区域、使用的悬臂及扫描仪等的综合评价，高效率、高精度地调整成最合适的测量条件。
· 通过新增加了振幅调整功能的测量参数自动调整功能（RealTune®II），可实现一键（One Click）测量。原来需要熟练操作的测量，现在没有经验的操作员也可以简单地操作。
· 也可用于很难调整参数的样品。
【实例1】纤维状的碳纳米管结构体（壁虎胶带）
【样品提供：日东电工股份公司】
此前的方法
此种样品需要对参数进行精细的调整，操作困难，并且柔软的纤维易变形产生皱痕。
新处理方法
自动调整成最合适的参数，可在复杂的纤维结构不变形的前提下进行测量。
【实例2】用于有机薄膜晶体管的多结晶薄膜（并五苯多结晶薄膜）
【样品提供：神户大学北村研究室】
此前的方法
此款样品表面容易损坏，易产生皱痕、step的轮廓也不明确。
新处理方法
自动调整为最合适的参数，稳定地测量分子级别上的step结构。
2. 新图形用户界面（Graphical Use Interface）
简单菜单
· 简单明了易懂的图标、严格筛选的显示信息，无论是无经验者还是熟练操作员，都能够方便地操作！
· 可通过选项卡在测量及分析作业领域之间切换，画面简洁明了。可有效地广泛使用。
3. 3D覆盖功能
能够将样品形状图像及物理性质图像重合起来显示，并能进一步构画出3D图像，可以通过视觉形象地感受样品的物理性质的分布。
4. 凹凸分析、剖面轮廓分析功能
具备凹凸分析、剖面轮廓分析等多样化的分析功能。
5. 小型化设计
外形更轻便、更小型化，适合各种放置场所。
220mm(W)×500mm(D)×385mm(H)、約15kg
| OS | Windows®7 |
|---|---|
| 连接机型 | AFM5100N、AFM5300E |
| RealTuneII | 悬臂振幅、接触力、扫描速度、自动设置反馈增益 (Auto、Fast、Soft、Rough、Flat、Point) |
| 操作画面 | 导航功能、多图显示功能（测量/分析）、3D叠加功能、扫描范围/测量记录显示功能、数据分析批量处理功能、探针评估功能 |
| X,Y,Z扫描电压 | XY（±200V/18bit） Z（±200V/26bit） |
| 多画面测量 | 4画面（2048×2048） 2画面（4096×4096） |
| 长方形扫描 | 1:1, 2:1, 4:1, 8:1, 16:1, 32:1, 64:1, 128:1, 256:1, 512:1, 1024:1 |
| 分析软件 | 3D显示功能、凹凸分析、剖面分析、平均剖面分析 |
| 尺寸、重量 | 220 mm（W）×500 mm（D）×385 mm（H）、约15 kg |
| 电源 | AC 100V～240V±10%、单相 |