数显立式光学计JDG-S2
产品简介
详细信息
数显立式光学计JDG-S2
一、用途
这是我厂研制的大量程、高精度的计量仪器。 本仪器是一种采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等精度量块,一级精度柱型规及各种圆柱形,球形,线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量,对被测件作微小位移测量。亦可用来控制精密零件的加工。
规 格
1、被测件长度 180 mm
2、直接测量范围 ≥10 mm
3、最小显示值 0.0001 mm
4、测量力 (2±0.2) N
5、不准确度 比较测量时:±0.00025 mm
直接测量时:0.0005mm6、测量误差 ±(0.5+L/100) µm L是被测长度,以mm
7、仪器体积 250X150X440mm
8、仪器重量 18kg
9、标准配件 可调带筋园台、可调园平台
10、平面测帽、平面测帽、小球面测帽、刃形测帽