科研级暗场金相显微镜XJ-51BD
产品简介
详细信息
产品概述:
科研级暗场金相显微镜XJ-51BD采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念,带有偏光装置、暗场装置,可实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数:50-600X
◆产品特点:
1、采用了优质的无限远光路设计,提供了的光学系统。
2、采用大视野目镜和明暗场长距平场物镜,视场平坦,成像清晰。
4、配置了偏光、暗场装置、可选配微分干涉装置,拓展了功能。
5、整机采用了防霉处理,保护了镜头,延长了仪器的使用寿命。
6、两路光路自由切换输出,一路用于观察,一路连接摄像装置。
◆典型应用:
1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验。
2、观察材料表面的某些特性,3、分析金属、矿相内部结构组织。
规格参数:
科研级暗场金相显微镜XJ-51BD采用优良的无限远光学系统与多功能、模块化的设计理念,带有偏光装置、暗场装置,可实现偏光观察、暗场观察等功能。紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微镜操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数:50-600X
◆产品特点:
1、采用了优质的无限远光路设计,提供了的光学系统。
2、采用大视野目镜和明暗场长距平场物镜,视场平坦,成像清晰。
4、配置了偏光、暗场装置、可选配微分干涉装置,拓展了功能。
5、整机采用了防霉处理,保护了镜头,延长了仪器的使用寿命。
6、两路光路自由切换输出,一路用于观察,一路连接摄像装置。
◆典型应用:
1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验。
2、观察材料表面的某些特性,3、分析金属、矿相内部结构组织。
规格参数:
一、显微镜参数:
序号 | 名称 | 技术参数 |
01 | 平场目镜 | WF10X/Φ22mm |
02 | 明暗平场物镜 | 无限远长距PLL 5X/0.10、10X/0.25、20X/0.40、40X/0.60、60X/0.75 |
03 | 总放大倍数 | 50X-600X |
04 | 观察头 | 双目,铰链式45°倾斜 |
05 | 转换器 | 五孔(内向式滚珠内定位) |
06 | 粗调调焦范围 | 粗微动同轴调焦,带锁紧装置,微动格值:2μm |
07 | 载物台 | 机械移动载物台,外形尺寸:242mmX200mm,移动范围30mmX30mm 圆形可旋转载物台板尺寸:外径Ф130mm,最小通光口径小于Ф12mm |
08 | 光瞳距离 | 53-75mm |
09 | 滤色片 | 磨砂玻璃、黄、绿、蓝滤色片 |
10 | 暗场照明 | 12V50W卤素灯,亮度可调12V50W 内置视场光阑、孔径光阑 |
11 | 偏光装置 | 拉板式起偏器,检偏器(可选配DIC微分干涉装置) |
12 | 仪器重量 | 净重7.0kg 毛重8.5kg |
13 | 仪器尺寸 | 仪器尺寸18X25X33(cm) 包装尺寸42X35X52(cm) |
二、目镜参数:
型号 T ype | 放大倍率 Magnification | 视场直径(mm) F.O.V | 外径(mm) Tube diameter |
WF10X/22 | 10X | Φ22 | Φ30.0 |
三、物镜参数:
放大倍率 Magnification | 数值孔径 N.A | 分辨率 R(μm) | 工作距离WD(mm) | 共轭距离Conjugate(mm) | 齐焦距离Parfocus(mm) | 盖玻片厚度CoverGlass(mm) |
5X | 0.12 | 2.10 | 9.70 | ∞ | 45 | 无 |
10X | 0.25 | 1.10 | 9.30 | ∞ | 45 | 无 |
20X | 0.40 | 0.70 | 7.23 | ∞ | 45 | 无 |
40X | 0.60 | 0.55 | 3.00 | ∞ | 45 | 无 |
60X | 0.75 | 0.42 | 1.90 | ∞ | 45 | 无 |
可选购件
一、显微镜选购件:
序号 | 名称 | 技术参数 |
01 | 测微目镜 | 10X(Φ22mm) |
02 | 明暗场物镜 | PLL50X、80X、100X |
03 | 物镜测微尺 | 0.01mm |
04 | DIC微分干涉装置 | 微分干涉相衬插板 |
二、摄像系统选购:
序号 | 名称 | 参数及功能 |
01 | CMOS数字摄像头 | 300万、500万、800万、900万、1000万、1400万(具有单张、定时采集图像、录像、显示比例尺、测量、图像拼接,融合等功能,并可以连接多媒体、打印、等多种输出方式。) |
02 | CCD数字摄像头 | 140万、300万、500万、900万、1400万(具有单张、定时采集图像、录像、显示比例尺、测量、图像拼接,融合等功能,并可以连接多媒体、打印、等多种输出方式。) |
03 | 高清模拟摄像头 | 日本JVC、松下及国产品牌580线(具有单张、定时采集图像,录像,叠加比例尺、测量、连接多媒体,打印输出等功能) |
04 | 单反数码相机 | 佳能、尼康、莱卡等以上像素单反相机(具有拍照、录像等功能) |
三、分析软件选购:
序号 | 名称 | 参数及功能 |
01 | 基本测量软件UV | 可单张、定时、连续采集;可显示标尺、放大倍数;可对显微图像进行长度、角度、半径、周长、面积等多种测量;可以连接多媒体、打印、等多种方式输出。 |
02 | 金相分析软件UV-MA | 包含多达400项左右符合GB、YB、JB、ASTM等标准自动评级项目,具有对金相图像进行自动评级、图谱比对、定标测量、定倍打印、查看图谱、输出报表和图像融合等多种功能。 |
03 | 矿相分析软件UV-K | 通过对显微图像的优化着色处理及测量来对矿相进行定量分析。可单张、连续采集;可显示标尺;可对显微图像进行长度、角度、半径、周长、面积等多种测量;可以连接多媒体、打印、等多种方式输出。 |
04 | 粒度软件UV-G | 包含所有基本测量功能,提取并计算不同颜色图像所占面积比例,可对视场内颗粒自动测量分析,并可按颗粒的粒径、面积、形状等多类参数以线性或非线性统计方式输出分布图和积分分布图,也可以得出D10、D50、D90等常用统计数据。可以连接多媒体、打印、等多种方式输出。 |
装箱清单
序号 | 名称 | 主要技术参数 | 单位 | 数量 |
01 | 显微镜机架 | 台 | 1 | |
02 | 双目镜筒 | 只 | 1 | |
03 | 无限远明暗场物镜 | 5X、10X、20X、40X、60X | 只 | 各1 |
04 | 平场目镜 | 10X | 对 | 1 |
05 | 载物台压簧 | 件 | 1 | |
06 | 载物片 | 片 | 1 | |
07 | 滤色片 | 蓝、绿、黄、磨砂 | 片 | 各1 |
08 | 摄像接口 | 只 | 1 | |
09 | 卤素灯 | 12V50W | 只 | 1 |
10 | 防尘罩 | 个 | 1 | |
11 | 电源线 | 根 | 1 | |
12 | 产品说明书 | 本 | 1 | |
13 | 产品装箱单 | 份 | 1 | |
14 | 产品合格证 | 份 | 1 | |
15 | 产品保修卡 | 份 | 1 |