OLED寿命老化测试系统
产品简介
详细信息
OLED寿命老化测试系统
简介
该系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统，主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。
1、系统主要测试参数
绘制OLED寿命老化曲线
2、系统特点
·可根据实际需要定制多通道测量（96通道、128通道）
·可提供恒温恒湿测试环境，模拟真实使用情况
恒温恒湿箱参数：
箱体尺寸 | 具体尺寸待定 |
温度范围 | -40℃~150℃，或-20℃~150℃，或0℃～+150℃多个温度范围（用户可根据实际测试需求选择） |
升温速率 | 2℃～4℃/min[从常温升到最高温、非线性空载） |
降温速率 | 0.7℃～1.0℃/min[从常温升到最高温、非线性空载） |
解析精度（显示） | 温度：±0.01℃ |
解析湿度（显示） | ±0.1%R.H |
温度波动度 | ±0.5℃ |
温度均匀度 | ±2.0℃ |
湿度范围 | 20%～98%R.H [25℃-85℃内] |
湿度波动度 | ±2.0%R.H. |
湿度偏差 | ±3% [湿度>75%RH 时] |
总功率/电压 | 5KW/380V |
控制功能 | 触控显示屏，温度设定可采用定值或程式编辑，可定时；标配USB接口，电脑只可读取温度数据，不能控制温度，需通过触控显示屏操作 |
3、测试原理
