ZZJ-IE200M系列倒置金相显微镜
产品简介
详细信息
ZZJ-IE200M系列倒置金相显微镜
一、 仪器概述：
ZZJ-IE200M操作简便，附件齐全，广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域。
光学系统 | 有限远色差光学系统 |
观察筒 | 45°倾斜，三目观察筒，瞳距调节范围:54-75mm，分光比：80:20 |
目镜 | 高眼点大视野平场目镜PL10X/18mm，可带测微尺 |
高眼点大视野目镜WF15X/13mm，可带测微尺 | |
高眼点大视野目镜WF20X/10mm，可带测微尺 | |
物镜 | 长工作距平场消色差金相物镜（5X、10X、20X、50X 、100X） |
转换器 | 内定位四孔转换器 |
内定位五孔转换器 | |
调焦机构 | 低手位粗微调同轴调焦机构，粗动每转行程38 mm；微调精度0.02mm |
载物台 | 三层机械移动平台，面积180mmX155mm，右手低手位控制，行程：75mm×40mm |
落射照明系统 | 落射式柯拉照明系统，带可变孔径光栏和中心可调视场光栏，自适应宽电压100V-240V，单颗5W 暖色LED灯，光强连续可调 |
落射式柯拉照明系统，带可变孔径光栏和中心可调视场光栏，自适应宽电压100V-240V，6V30W卤素灯，光强连续可调 | |
摄影摄像 | 0.5X/1X摄像接筒，C型接口，可调焦 |
其他 | 起偏镜插板，固定式检偏镜插板，360°旋转式检偏镜插板；滤色片组；高精度测微尺 |