XJL-302 DIC微分干涉相衬显微镜
产品简介
详细信息
XJL-302 DIC
XJL-302 DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
产品特点
★ 采用优良的无限远光学系统,可提供的光学性能。
★ 紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。
★ 大行程机械移动载物平台,适合于大试样显微观察或多试样快速检测。
★ 模块化的功能设计,可以方便升级系统,实现偏振观察、微分干涉相衬观察等功能。
★ 符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。