ABH200M金相显微镜
产品简介
详细信息
产品描述：
1.透反射金相显微镜，带上下光源，高倍，适用于金属切片，粉沫，气孔等微小产品的检测；
2.可连接电脑拍照测量，数据分析。
详细参数：
| 正置透反射金相显微镜ABH200M技术参数 | |
| 目镜 | 高眼点平场目镜PL10X/18,视场数18mm |
| 无限远平场消色差物镜 | 无限远长距平场金相物镜5X LMPL5X /0.14 WD15.5mm |
| 无限远长距平场金相物镜10X LMPL10X /0.25 WD8.7mm | |
| 无限远长距平场金相物镜20X LMPL20X /0.40 WD8.8mm | |
| 无限远长距平场金相物镜50X LMPL50X /0.55 WD5.1mm | |
| 目镜筒 | 铰链式三目，30°倾斜，360°旋转，瞳距调节范围：54-75mm，双边±5屈光度可调； |
| 调焦机构 | 粗微调同轴，带机械上限位和松紧调节装置, 粗调行程28mm，微调精度0.002mm |
| 转换器 | 内定位五孔转换器 |
| 载物台 | 双层机械移动平台,附设180X145mm平板平台, 移动范围：76mmX50mm |
| 反射式照明系统 | 反射式柯拉照明，自适应宽电压90V-240V，LED光源，光强连续可调,带可变孔径光阑与视场光阑,视场光阑中心可调 |
| 透射式照明系统 | 6V，30W透射照明系统 |
| 摄像装置 | 1.0X ，C型摄像接筒 |
| 成像系统 | 选配 |
| 主要适用行业 | 电镀行业，镀层厚度测量，金属结构分析，微米级别细微测量分析。 |