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P系列显微镜-拥有的光学系统和新一代的光学技术并内置明场、暗场、偏光、微分干涉(DIC)等多种观察方式。偏光可用于显示材料的纹理和晶体样貌，其非常适合检测晶片和LCD结构；微分干涉差(DIC)用于帮助观察具有细微高度差异的样品，该技术非常适合用于检测诸如磁头、硬盘介质、以及抛光晶片等具有很小高度差的样品；暗场是检测标本上细微划痕或缺陷以及晶片等镜面样品的理想工具。

                             PA53MET

显微镜系统具有多种功能，采用符合人体工学的易用设计，能够提供 300mm 晶圆、平板显示器、印刷电路板、以及其他大型样本的高品质观察。该产品采用灵活的模块设计，能够提供适用于多种检查用途的观察系统。

                                                 Panthera TEC

通过与华显光学EOC 图像分析软件结合，让操作者更容易获得所需的图像和对产品的检查；不仅可对样品进行微观观察，还能进行二维三维等精准的数据测量，从观察到报告生成在内的整体检查过程都变得简单而流畅。可广泛应用在半导体、纺织、材料科学、医疗、新能源、电子等行业。

                     HXJ-MX6R