M2型全谱直读光谱仪
产品简介
详细信息
M型全谱直读光谱仪采用标准的设计和制造工艺技术，全数字化及互联网技术结合，运用高分辩率CMOS检测器，精密设计的氩气吹扫系统，使仪器具有较高的性能、较低的成本、以及竟争力的价格。
M2可应用于多种材料的分析。
01 小巧、轻便、精致、可靠的仪器结构，具有同类型直读光谱仪准确的分析数据。
02 超小设计的光学室结构及优化设计的氩气吹扫系统，保证紫外区元素谱线的透过率。
03 应用高分辩多CMOS读出系统，较低的暗电流、较好的检出限、较高的稳定性、较强的灵敏度。
04 全数字化的智能复合光源DDD技术，充分满足不同基体、不同样品以及不同元素的激发要求。
05 FPGA数据采集及以太网网络数据传输技术，保证数据一致性及数据传输速率。
06 内置工厂校正曲线及曲线扩展技术，满足不同材料的技术要求。
07互联网网络技术及数据云储存。
08 操作简单、维护成本低、质量可靠。
09 竟争力的价格。
精密设计的氩气吹扫系统
光室密封性强，可保持内部氩气长期纯净。
光室空间优化设计，降低氩气消耗，有效节约产生成本。
低氩气吹扫系统，确保光室UV波段测量环境。
光室充氩免除复杂的真空系统。
高分辩率CMOS检测器实现全谱分析
谱线覆盖了所有的重要元素，满足所有基体和材料的分析。
高灵敏的紫外区检测，对N的分析检测更准确。
可有效选择元素灵敏线，保证分析的准确度。
多峰拟合技术，有效消除谱线干扰，实现精准测量。
分析软件功能强大
1)基于Windows系统的多国语言的CCD全谱图形化分析软件，方便实用；
2)管理的控制整个测量过程及为用户提供强大的数据处理能力和测试报告输出能力；
3)仪器可配置多条工厂校正曲线及更多材质分析及解决方案；
4)软件实现全谱检测、智能扣干扰、扣暗电流、背景和噪声的算法，提高仪器的分析能力；
5)完备的自动系统诊断功能；
6)完善的数据库管理功能，可方便查询、汇总数据；
7)智能校正算法，保证仪器稳定可靠；
8)完备的谱线信息和干扰扣除算法，保证仪器分析更为精准；
9)适应Windows操作系统。
主要技术参数
| 项目 | M2 |
| 检测基体 | 单基体 |
| 光学系统 | 帕型-龙格结构 |
| 光室结构 | 充氩方式 |
| 波长范围 | 165-580nm |
| 光栅焦距 | 150mm |
| 光栅刻线 | 3600条/mm |
| 探 测 器 | 多CMOS检测器 |
| 光源类型 | 可编程脉冲数字光源 |
| 仪器尺寸 | 643*450*270 |
| 仪器重量 | 30Kg |