XJP-600精密测量显微镜
产品简介
详细信息
XJP600多功能精密测量显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。作为高级精密测量金象显微镜使用，可用来鉴别、分析、测量各种金属、合金的组织结构以及半导体、LCD、TFT、PDP、太阳能电池板的检测。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。
| 技术规格 | ||
| 光学系统 | 无限远光学系统 | |
| 观察头 | 正像，30°铰链式，可调瞳距50mm-75mm | |
| 目镜 | WF10×/23mm 超宽视场平场目镜 | |
| WF10×/20mm,带0.1mm十字分划板 | ||
| 物镜 | 95mm无限远平场复消色差长工作距离物镜 5X/0.15（W.D.44mm） 10X/0.30（W.D.44mm） 20X/0.35（W.D.44mm） 50X/0.50（W.D.44mm） | |
| 转换器 | 带DIC插孔四孔转换器，中心可调 | |
| 平台 | 平台尺寸: 286mm×286mm | |
| 移动范围：100mm×100mm | ||
| X轴和Y轴快速移动功能 | ||
| 调焦 | 粗微动同轴调焦，微动规格0.002mm Z轴升降范围：150mm | |
| 光源 | 表面照明 带孔径光缆和视场光栏的Kohler照明，卤素灯12V/50W,AC85V-230V,亮度连续可调 轮廓照明； 远心照明，卤素灯12V/50W,AC85V-230V,亮度连续可调 | |
| 偏光装置 | 检偏镜可360°转动。起偏镜、检偏镜均可移出光路 | |
| 显示装置 | 轴数：2轴或3轴 分辨率：0.0005mm 功能：凋零，方向转换，数据输出，TTL讯号 电源：AC85V~230V | |
| 检测工具 | 0.01mm测微尺 | |
| 可供附件 | 目镜：WF10X/25mm、WF15X/17mm、WF20X/12.5mm | |
| 物镜：95mm平场无限远复消色差长工作距离物镜 2X/0.05（W.D.20mm）、100X0.80（W.D.4.0mm） | ||
| 二维测量软件 | ||
| 专业金相图像分析软件 | ||
| 测微目镜 | ||
| 摄影装置及CCD接口：0.5X、0.57X、0.75X 130万、200万、300万、500万、1000万 | ||
| 像素电子目镜 | ||
| 彩色1/3寸 CCD700条线 | ||
| 各款工业相机 | ||