蔡司高速扫描电子显微镜M
产品简介
详细信息
蔡司开启电子显微镜速度的革新时代
借助MultiSEM显微镜，您可以充分运用91条并行电子束的采集速度。现如今，您能够以纳米分辨率对厘米级样品成像。这款出色的扫描电子显
微镜（SEM）专为7x24小时的连续、可靠运行而设计。只需简单设置高性能数据采集流程，MultiSEM 便能够独立地自动完成高衬度图像采集。
使用成熟的ZEN成像软件控制 MultiSEM：您可以直观灵活地管理这款高性能扫描电子显微镜的所有功能选项。
以速度和纳米分辨率采集图像
91条电子束同时工作，拥有出色的成像速度。
在几分钟内对1mm2的区域成像，分辨率高达4nm。
借助经优化的二次电子探测器，以低信噪比采集高衬度图像。
大型样品的采集和成像
MultiSEM配备有一个可容纳10cmx10cm大小样品的样品夹。
对整个样品成像并发现所有细节，助力于科研。
自动采集方案可实现大面积成像-您将获得精细的纳米图像，且不丢失可见信息。
ZEN 成像软件
使用成熟的ZEN软件简便直观地操控MultiSEM，该软件被应用于所有蔡司成像系统
智能化自动调节程序能够帮助您以高分辨率和高衬度捕获图像
根据样品的实际情况，快速轻松地创建复杂的自动采集流程
MultiSEM的ZEN 软件可高速进行连续并行成像
开放的API软件接口可提供灵活快速的应用开发
对大体积样品连续切片断层扫描的数据获取
使用ATUMtome 自动切割树脂包埋生物组织。内搜集多达1000个连续切片。
将切片用胶带固定在硅晶片上并用蔡司的光学显微镜成像。使用蔡司的ZEN 成像软件以及Shuttle＆Find功能组件对整体成像。再将硅晶片移至
MultiSEM 电子显微镜下，对样品进行整体预览并利用ZEN软件用户界面规划整个实验。
用图形化的控制中心设置整个实验。高效的自动切片检测可以识别和标注感兴趣区域，节省大量时间。