D8 ADVANCEX射线衍射仪 XRD
产品简介
详细信息
D8 ADVANCE—面向未来的X射线衍射解决方案:
基于无二的D8衍射仪系列平台的D8 ADVANCE，是所有X射线粉末衍射和散射应用的理想之选，如：
典型的X射线粉末衍射（XRD）
对分布函数（PDF）分析
小角X射线散射（SAXS）和广角X射线散射（WAXS）
由于具有出色的适应能力，仅使用D8 ADVANCE，您就可对所有类型的样品进行测量：从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。
无论是新手用户还是专家用户，都可简单快捷、不出错地对配置进行更改。这都是通过布鲁克的DAVINCI设计实现的：配置仪器时，免工具、免准直，同时还受到自动化的实时组件识别与验证的支持。
不仅如此——布鲁克提供基于NIST标样刚玉（SRM1976）的准直保证。目前，在峰位、强度和分辨率方面，市面上尚无其他粉末衍射仪的精度超过D8 ADVANCE。
D8 ADVANCE应用
粉末衍射
X射线粉末衍射（XRPD）技术是最重要的材料表征工具之一。粉末衍射图中的许多信息，直接源于物相的原子排列。在D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件的支持下，您将能简单地实施常见的XRPD方法：
鉴别晶相和非晶相，并测定样品纯度
对多相混合物的晶相和非晶相进行定量分析
微观结构分析（微晶尺寸、微应变、无序…）
热处理或加工制造组件产生的大量残余应力
织构（择优取向）分析
指标化、从头晶体结构测定和晶体结构精修
对分布函数分析
对分布函数（PDF）分析是一种分析技术，它基于Bragg以及漫散射（“总散射”），提供无序材料的结构信息。其中，您可以通过Bragg衍射峰，了解材料的平均晶体结构的信息（即长程有序），通过漫散射，表征其局部结构（即短程有序）。
就分析速度、数据质量以及对非晶、弱晶型、纳米晶或纳米结构材料的分析结果而言，D8 ADVANCE和TOPAS软件代表了市面上性能的PDF分析解决方案：
相鉴定
结构测定和精修
纳米粒度和形状
薄膜和涂层
薄膜和涂层分析采用的原理与XRPD相同，不过进一步提供了光束调节和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鉴定、晶体质量、残余应力、织构分析、厚度测定以及组分与应变分析。在对薄膜和涂层进行分析时，着重对厚度在nm和μm之间的层状材料进行特性分析（从非晶和多晶涂层到外延生长薄膜）。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软件可进行以下高质量的薄膜分析：
掠入射衍射
X射线反射法
高分辨率X射线衍射
倒易空间扫描
亮点
D8 ADVANCE系列特点:安全外壳
D8 ADVANCE外壳旨在在更小的占地面积中，带来的人体工程学优势和安全性优势。其LED X射线灯和交互式屏幕按键，可准确显示当前的仪器状态，便于您查看。内部采用可调光的LED照明。电缆管理置于外壳内部，采用可拆卸的迷宫结构，便于布线。设备底座采用标准的19英寸机架，可安装温控样品台等辅助控制器。
的安全性和质量：D8 ADVANCE符合所有现行的欧盟指令，因此该系列在X射线安全性、机器安全性、电气安全性和电磁兼容性方面，创下了X射线分析设备的高标准，并为此提供保证。
D8 ADVANCE系列特点:D8测角仪
通过仪器性能验证与的NIST刚玉标样SRM 1976提供准直保证
测角仪采用坚固且免维护的设计，为整个生命周期内的性能提供了保证
适用于受管制行业（如制药业）的IQ / OQ程序
D8 ADVANCE系列特点:DAVINCI设计
DAVINCI.DESIGN是布鲁克推出的采用开创性设计的衍射仪，可实现真正意义上的“即插即用”，面对不断变化的需求、多用户环境以及研究，它将是您的理想之选。借助DAVINCI设计，您将能轻松切换包括X射线管、光学器件、样品台和探测器在内的光路组件，而无需对准。而通过自动识别所有组件，您还可以实现配置实时调整与验证。DIFFRAC.DAVINCI软件插件是一无二的虚拟测角仪软件解决方案，它可显示真实测角仪的所有光路组件及其状态，并对存在的任何配置冲突进行报告。
有了DAVINCI设计加持，D8 ADVANCE成为了真正意义上的通用系统，不论是当前还是未来的任何X射线衍射和散射应用，它都具有的适应能力。
带有DAVINCI设计的D8 ADVANCE：操作轻松、直观、畅通无阻且支持失效保护，适合任何用户（包括新手和专家）使用。
D8 ADVANCE 规格
