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半导体晶圆拉曼光谱测试系统

半导体晶圆拉曼光谱测试系统具有自动对焦和实时表面跟踪功能，无需样品标记，可进行无损非接触式测量，空间分辨率＜1μm。系统可以对第三代半导体进行组分、应力、载流子浓度、结晶度和缺陷进行检测，广泛地应用于半导体材料的质量监控、失效分析。

半导体晶圆拉曼光谱测试系统R1——应力、组分、载流子浓度

面向半导体晶圆检测的拉曼光谱测试系统
主要功能：

•光穿过介质时被原子和分子散射的光发生频率变化，该现象称为拉曼散射。

•拉曼光谱的强度、频移、线宽、特征峰数目以及退偏度与分子的振动能态、转动能态、对称性等紧密相关

•广泛地应用于半导体材料的质量监控、失效分析。

仪器架构：

性能参数：

拉曼激发和收集模块	激光波长	532 nm
	激光功率	100 mW
	自动对焦	•在全扫描范围自动聚焦和实时表面跟踪 •对焦精度<0.2微米
	显微镜	•用于样品定位和成像 •100x，半复消色差物镜 •空间分辨率<2微米
	拉曼频移范围	80-9000 cm-1
样品移动和扫描平台	平移台	•扫描范围大于300x300mm。 •最小分辨率1微米。
	样品台	•8寸吸气台（12寸可定制） •可兼容2、4、6、8寸晶圆片
光谱仪和探测器	光谱仪	•320 mm焦长单色仪，接面阵探测器。 •分辨率<2.0 cm-1。
软件	控制软件	•可选择区域或点位自动进行逐点光谱采集
软件	Mapping数据分析软件	•可对光谱峰位、峰高和半高宽等进行拟合。 •可自动拟合并计算应力、晶化率、载流子浓度等信息，样品数据库可定制。 •将拟合结果以二维图像方式显示。