MarSurf XCR 20轮廓粗糙度仪
产品简介
详细信息
MarSurf XCR 20 测量粗糙度和轮廓可在一台测量站上同时执行表面粗糙度和轮廓测量。根据测量任务，可使用 GD 25 驱动装置进行表面粗糙度测量，或使用 PCV 驱动装置进行轮廓测量。两个测量系统通过组合支架固定到测量立柱。
产品特点：
节省空间型设计：两个驱动装置可使用相应的组装支架安装到 MarSurf ST 500 或 ST 750 测量立柱
一次测量即可完成粗糙度和轮廓评估
使用 MarSurf LD 130 / LD 260 测量系统对组件进行高精密度轮廓和粗糙度评估需要长行程和的分辨率
只需在软件平台内进行切换并更换驱动装置和测头等机械组件即可快速更换粗糙度和轮廓测量
技术参数：
接触速度（Z 方向）： 0.1 至 1 mm/s
测杆长度： 175 mm, 350 mm
测量速度（文本）： 0.2 mm/s 至 4 mm/s
针尖半径： 25
扫描长度末尾（X 方向）： 200 mm 分辨率Z 方向，相对探针针头：0.38 μm（350 mm 测杆）/ 0.19 μm（175 mm 测杆）
Z 方向，相对测量系统：0.04 μm
扫描长度开始（X 方向）： 0.2 mm
取样角： 在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至 88°，前缘高至 77°