FTT-02 非晶纳米晶合金带材叠片系数测厚仪
产品简介
详细信息
非晶纳米晶合金带材叠片系数测厚仪
非晶合金是由超急冷凝固，合金凝固时原子来不及有序排列结晶，得到的固态合金是长程无序结构，没有晶态合金的晶粒、晶界存在。这种非晶合金具有许多的性能，由于它的性能优异、工艺简单，从80年代成为国内外材料科学界的研究开发重点。铁基非晶合金是由80%Fe及20%Si,B类金属元素所构成,它具有高饱和磁感应强度（1.56T），磁导率、激磁电流和铁损等各方面都优于硅钢片的特点。
测试原理
机械接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测量头自动降落于试样之上，在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。
应用领域
非晶带材的应用：逆变器用电抗器、变压器铁芯；宽恒导磁电感铁芯、PFC电感铁芯；中频变压器铁芯、配电变压器铁芯；数码电子用非晶电磁屏蔽箔片。
非晶带材的质量和应用效果主要有两个关键指标，叠片系数和厚度。
叠片系数简单地说就是变压器叠片铁芯的有效面积系数，叠片系数越高，铁芯的有效面积越大，使磁通密度减少，损耗降低。在制造过程中，硅钢片搭片、错片、毛刺、弯曲等缺陷会导致叠片系数降低，从而导致变压器性能降低，严重的如过大的毛刺会使片间短路，铁心的涡流损耗增加。
非晶带材厚度一般在20μm-30μm，叠片时厚度偏差的放大效应更明显，导致叠片系数低，因此改善带材厚度偏差是提高非晶带材叠片系数的有效途径。另外，按照国家标准GB/T 19345-2003非晶纳米晶软磁合金带材的规定，非晶带材厚度偏差为同一炉带材沿长度方向的厚度的±10%以内，在宽度方向的厚度偏差应在±2μm。
试样制备
试样的制取和数量根据测试要求确定。
实验步骤
1.将准备好的试样固定在测试台上，点击气动夹持试样按钮，夹紧试样。
2.操作触摸屏，点击实验进入参数设置界面，设置测量时间，每个测试点间距，测试点数参数。
3.操作触摸屏，点击实验按钮，仪器自动根据设置的参数进行测量，并显示最终厚度和叠片系数的测试结果。
定制流程
1、前期沟通：联系我们·确认需求
2、下单付款：客服报价·订购合同
3、安排生产：开始生产·严格质检
4、生产发货：生产完成·快速发货
5、售后维护：验收货品·安装调试
6、收货好评：确认收货·五星好评
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5、西奥机电始终致力于产品性能和功能的创新及改进，基于该原因，产品技术规格亦会相应改变。上述情况恕不另行通知，本公司保留修改权与最终解释权。
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公司介绍
济南西奥机电有限公司专业致力于各种材料及包装检测仪器研发、制造、销售与服务。业务范围涵盖检测仪器，PLC编程及特殊设备定制等领域。根据丰富的行业经验积累，通过设计及技术创新，实现了检测仪器与工业控制及自动化的结合。
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西奥机电不断研发与提升制造工艺与设计理念，产品凭借优良表现赢得了客户的广泛信赖并广泛服务于包装，食品，医药，塑料，纸制品，日化，质检机构，大专院校等行业客户。西奥机电始终以客户为中心，坚持为客户提供性价比及稳定性的产品与服务，立志于为广大用户提供优秀质量管控与研究设备。西奥同时积极拓展海外业务，设备远销南亚，东南亚，美洲，欧洲，非洲。
公司产品列表
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