X荧光光谱分析仪iEDX-150WT（镀层测厚仪）
产品简介
详细信息
X荧光光谱分析仪iEDX-150WT（镀层测厚仪）
详情介绍
一、产品概述
产品类型： X荧光光谱仪
产品名称： 镀层测厚仪 (可选配镀液检测，RoHS检测，合金分析功能）
型 号： iEDX-150WT
生 产 商： 韩国ISP公司
二、产品优势
1. 镀层检测，最多镀层检测可达5层。
2. 对于薄镀层分析精确，可以精确的分析小于1uin(0.025um）的镀层，可以准确分析0.2-0.5uin的金层。
3. 可同时进行选配RoHS检测功能，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。
4. 可同时进行选配镀液药水分析功能，一分钟即可分析出药水内金，镍，铜等药水含量，分析精度为0.01ppm，
5. 可同时进行选配合金成分分析功能。
6. 开槽式超大可移动全自动样品平台610*525 (长*宽)，样品移动距离可达112*2X5mm(长*宽*高) ；专为线路板行业研制。
7. 激光定位，可以连续自动多点程控测量；
8. 可以选配多准直器系统，单准直器/6个准直器/7个准直器。
9. 可检测固体、液体、粉末状态材料；
10. 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；
11. 可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析；
12. 操作简单、易学易懂、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果（20-40秒）；
13. 标配德国AmptekSI-Pin 探测器，选配高精度硅漂移SDD探测器，保证测试精度。
14. 软件支持无标样分析。
15. 相对于传统镀层，开机不需要预热，可以可以测量，测量后可以直接关机，节约用电，减少关键部件（X射线管，高压等）消耗，并减少了等待时间。
三、产品配置及技术指标说明
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| 标配 | 选配 |
| X射线管 | 高稳定性X光管，使用寿命长（工作时间>15,000小时）。 MO (鉬)靶，铍窗口， 光斑尺寸75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。 50kV，1mA，高压和电流设定为应用程序提供性能。 | 高稳定性微焦点X光管，使用寿命（工作时间>15,000小时）。 MO (鉬)靶，铍窗口， 光斑尺寸50um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。 50kV，1mA，高压和电流设定为应用程序提供性能。 |
| 平台 | 固定平台 | 软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。激光定位、简易荷载负载量为5公斤，控制程序进行持续性自动测量。 平台尺寸：610*525mm (长*宽*高) 样品移动距离：112*2 X5 mm(X*Y*Z) |
| 准直器 | 单准直器系统 0.2/0.3MM选1个 | 0.05/0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7种准直器规格可选,客户可最多选7种准直器尺寸，可定制特殊尺寸准直器。 |
| 探测器 | 半导体Si-PIN 探测器，分辨率159eV， | 高分辨率硅漂移SDD探测器，分辨率可达到125eV. |
| 滤光片 | 初级滤光片：Al滤光片，自动切换 | / |
| 样品定位 | 显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能 | / |
| 视频系统 | 高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统。 观察范围：3mm x 3mm。 放大倍数：40X。 | / |
| 附件 | 含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标 | / |
| 软件 | 标配Multi-Ray镀层分析软件 | 1、选配ROHS分析软件 2、选配合金分析软件 3、选配药水分析软件 |
| 检测元素范围 | Al (13) ~ U(92) | / |
| 分析样品类型 | 液体/固体/粉末 | / |
四、iEDX-150WT型号光谱仪软件功能
1) 软件应用
- 单镀层测量
- 线性层测量，如：薄膜测量
- 双镀层测量
- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析
- 三镀层测量。
- 无电镀镍测量
- 电镀溶液测量
- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2
- 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本参数法可以满足所有应用领域的测量
2) 软件标定
- 自动标定曲线进行多层分析
- 使用无标样基本参数计算方法
- 使用标样进行多点重复标定
- 标定曲线显示参数及自动调整功能
3) 软件校正功能：
- 基点校正（基线本底校正）
- 多材料基点校正，如：不锈钢，黄铜，青铜等
- 密度校正
4) 软件测量功能：
- 快速开始测量
- 快速测量过程
- 自动测量条件设定（光管电流，滤光片，ROI）
5) 自动测量功能（软件平台）
- 同模式重复功能（可实现多点自动检测）
- 确认测量位置 (具有图形显示功能)
- 测量开始点设定功能（每个文件中存储原始数据）
- 测量开始点存储功能、打印数据
- 旋转校正功能
- TSP应用
- 行扫描及格栅功能
6) 光谱测量功能
- 定性分析功能 （KLM 标记方法）
- 每个能量/通道元素ROI光标
- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能
- 光谱比较显示功能：两级显示/叠加显示/减法
- 标度扩充、缩小功能（强度、能量）
7） 数据处理功能
- 监测统计值： 平均值、 标准偏差、 值。
- 最小值、测量范围，N 编号、 Cp、 Cpk，
- 独立曲线显示测量结果。
- 自动优化曲线数值、数据控件
8）其他功能
- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境
- 独立操作控制平台
- 视频参数调整
- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接
- Multi-Ray、Smart-Ray自动输出检测报告（HTML，Excel）
- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......
- 数据库检查程序
- 镀层厚度测量程序保护。
9） 仪器维修和调整功能
- 自动校准功能；
- 优化系统取决仪器条件和操作室环境；
- 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率，迭代法取决于峰位置、 CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。
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