TESA二维测高仪
产品简介
详细信息
MICRO-HITE二维测高仪
快速完成复杂测量任务的选择
可以用来进行平面、平行面和圆柱面几何体的内尺寸、外尺寸、高度、深度或距离尺寸测量。同时可以进行
一维或二维的测量。自动搜索孔或轴的顶点，在动态探测中记录大、小值以及大小值之间的差值计算。
TESA IG-13数字式测头可以测量垂直度、直线度、平行度等偏差和跳动误差，并以ISO1101 标准输出数据。
在电子测高仪上20 年的制造经验造就了高品质的设计，代表了当今的技术水平的发展。
生产现场检测的理想工具，在工作区没有任何电缆。
快速简单可靠测量，尤其是工件孔类。365、615 和920 mm 三种量程供您选择。
显示的分辨率为0.0005, 0.001, 0.01 和0.1mm 或转换为相等的英制单位
通过计算机辅助精度(CAA) 自动修正偏移误差可以极准确测量长度、直线度和垂直度
具有和钢一样的膨胀系数（11.5×10-6k-1）
控制面板";ID"; 和";power panel"; 通过交互式的数据处理和输出，可以引导操作者的操作
无须人工计算
可以通过编写程序循环测量99 个工件，每个测量循环包含相关尺寸极限值的64 个指标
内置打印机用于数据输出或利用外部打印机以A4 纸打印，RS 232 数据输出
每台测高仪带有SCS 校准证明