MicroTEQ-S1拉曼系统
产品简介
详细信息
显微光谱测量系统 MicroTEQ-S1
MicroTEQ-S1显微光谱测量系统，集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上，实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、光源、显微镜等部分构成，自由灵活，帮助用户快速对样品微观结构，微观光谱信息的测试和分析；此外系统可以加装二维电控扫描台，通过软件控制，实现光谱二维扫面测量功能。
应用范围
· 微流控；
· 植物叶片研究；
· 激光材料评价；
· 生物和细胞测试；
· 光子晶体测试；
· 珠宝、古籍检测;
· 纳米材料分析；
拉曼模式
拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中，从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm，仅需通过更换探头和激光器，便可实现488nm、532nm、633nm、785nm激发波长的拉曼光谱测量。
搭配便携式拉曼光谱仪
显微光谱测试模块也能够适配ACCUMAN SR 系列科研级便携拉曼，即插即用的工作模式让您不仅可以实现便携的拉曼光谱测量，还可以更方便地在实验室内实现显微拉曼光谱分析。
其他模式
· 荧光测量：显微光谱测量模块内部集成了荧光测试光路，通过SMA905光纤接口与荧光激光器和荧光光谱仪连接。其中连接激光器的SMA905接头，可以改装成为自由空间光作为输入光源，从而得到更强的激发功率或更好的光斑质量。模块中带滤光片插槽，可以放置适配不同激发波长的激发滤光片和发射滤光片，实现不同激发波长的显微荧光测量。
· 颜色和反射测量：使用光纤把钨灯光源和显微光谱测量模块连接起来，共用荧光光路，即可实现显微反射光谱测量和显微颜色测量功能。
二维Mapping：选配二维电动平台，使用操作软件设置面扫描采样， 获取一定范围内的逐点扫描光谱数据，可用于表征材料表面微观结构和光谱成像。同时测试结果还可以通过图像绘制的方式呈现出来。
| 光谱仪配置 | 拉曼 | 拉曼 | 荧光 | |
| 光谱仪 | QEPRO@532nm | QEPRO@785nm | QEPRO-FL | |
| 光谱范围 | 150-4200cm-1@532nm | 150-2000cm-1@785nm | 300-1050nm | |
| 分辨率 | ~10cm-1@5um狭缝 | ~6cm-1@5um狭缝 | 1.5nm@5um狭缝 | |
| 信噪比 | 1000:1 |
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| A/D | 18位 |
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| 探测器 | 背照减薄型面阵CCD |
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| 杂散光 | 0.08%@600nm |
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| 线性度 | >99% |
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| 动态范围 | 85000:1 |
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| 暗噪声 | 6RMS@18位 |
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| 积分时间 | 8ms-60mins |
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| 激光器 | LASER-532 | LASER-785 | LASER-405 | LASER-450 |
| 激光波长 | 532nm | 785nm | 405+/-2nm | 450+/-2nm |
| 激光功率 | 0-300mW可调 | 0-500mW可调 | 0-200mW可调 | 0-200mW可调 |
| 线宽 | <0.2nm | <0.1nm | 2nm | 2nm |
| 寿命 | 10000h | 10000h | 10000h | 10000h |
| 拉曼探头 | RPB-532 | RPB-785 |
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| OD值 | OD>6 | OD>6 |
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| 焦距 | 7.5mm | 7.5mm |
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| 激光输入端光纤 | 100um |
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| 光谱收集端光纤 | 200um |
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| 显微光谱测量模块 | Micro-S1 |
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| 光谱范围：400-1100nm |
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| 显微镜 | 4组平场消色差物镜：5X,10X,20X,50X |
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| 5X，数值孔径：0.15，工作距离：10.8mm |
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| 10X，数值孔径：0.3，工作距离：10mm |
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| 20X，数值孔径：0.45，工作距离：4mm |
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| 50X，数值孔径：0.55，工作距离：7.9mm |
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| 100X，数值孔径：0.8，工作距离：4mm（非标配，可选） |
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| 1/2”CMOS彩色CCD，2048*1536（300万像素） |
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| 载物台面积175mm×145mm，移动范围：76mm×42mm |
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| 二维电控平移台（可选配） | 一体式二维电控平移台，含控制器； |
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| 行程：50mmx50mm； |
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| 重复定位精度：2um； |
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| 移动分辨率：1um； |
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