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JSM-7600F 热场发射扫描电子显微镜

JSM-7600F 热场发射扫描电子显微镜新型并且功能强大的 FE-SEM，集超高分辨率成像和强化的分析功能于一体

分辨率：GB 模式下为1.5 nm （1 kV），1.0 nm（15 kV）

· 加速电压： 0. 1kV to 30 kV

· 放大倍数： 25到1,000,000x

· 可与冷场FEG SEM媲美的超高分辨率成像在GB 模式下为1.5 nm（1 kV），1.0 nm （15 kV）

· In-lens 热场 FE 枪

· zui大束光阑角控制镜，不管束流大小，均可获得*的电子束照射。

· 流 200 nA（15 kV）时的分析能力可以支持各种类型的样品分析（WDS、EDS等）

· γ过滤器能控制能量选择或二次电子及背散射电子像的图像混和率。

· 柔和光束模式可将电子束对超表面成像引起的损伤降低到zui低程度

· 节能并且环保

JSM-7600F 热场发射扫描电子显微镜规格