SGW X-4 SGW X-4A SGW?X-4B显微熔点仪
产品简介
详细信息
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、染料、香料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。
| SGW®X-4 | SGW®X-4A | SGW®X-4B | |
| 熔点测量范围 | 室温至320℃ | 室温至320℃ | 室温至320℃ |
| 测量重复性 | ±1℃ (在<200℃ 时)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) | ±1℃ (在<200℃ 时)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) | ±1℃ (在<200℃ 时)；±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 时) |
| 温度显示最小值 | 1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
| 熔点观察方式 | 单目显微镜 | 单目显微镜 | 双目体视显微镜 |
| 光学放大倍数 | 40× | 40× | 40×-100×连续变倍 |