日本电子扫描电镜JCM-6000Plus
产品简介
详细信息
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产品参数
产品编号: 日本电子扫描电镜JCM-6000Plus所属品牌: JEOL产品型号: JCM-6000Plus 额定功率：按实际方案提供所属类别: 扫描电镜所属用途: 金相组织观察应用领域:产品特性: 台式扫描电子显微镜日本电子JCM-6000Plus。除了电子枪合轴,聚焦,消象散,衬度/亮度调节这些分别独 立的自动功能外,还具有全自动功能,只需轻触按钮就能开始成像过程,显示当前的图像.下载相关资料 -
日本电子扫描电镜JCM-6000Plus
操作简单
自动功能
除了电子枪合轴、聚焦、消象散、衬度/亮度调节这些分别独 立的自动功能外，还具有全
自动功能，只需轻触按钮就能开始成像过程，显示当前的图像。
手动操作
触摸想操作的项目后，会亮起绿灯，用力长按按钮可进行粗调，轻点按钮可进行微调，
既有触控的简便性也有使用旋钮的熟悉感。
图像搜索 / 显示
显示保存的图像。选择感兴趣的的图像，勾选 Display image 按钮，能放大该图像进行
仔细观测。
显示倍率图像
勾选Low Mag Imgae，能观察刚抽完真空后的倍率的图像，很适合确认样品的位置。
预设倍率
最多能预设 6 种倍率，预先设置好常用的放大倍数还可提高作业效率 ! 只需按下其中的
instant set 按钮就可即时设定当前的倍率。
触摸屏＆鼠标操作
JEOL 的品牌──触摸屏系统，不仅用户界面简明易懂，操作也非常直观，调节倍率等
就像使用智能手机一样简单方便，还可利用鼠标操作，就像使用以前的操作面板。
观察
只需轻触一下就可以切换高真空 / 低真空模式能观察多种样品。
高真空模式 二次电子像
高真空模式下能通过二次电子像和背散射电子像进行观察。能观察二次电子像中精细的表面结构，在高倍率下观察也比较容易。
高真空模式 背散射电子像
由于采用了半导体背散射电子检测 器，因而能检测出成份像、形貌像和阴影像这三种信息，结合二次电子还可获得多种信息。
低真空模式
利用 JCM-6000Plus 标配的低真空模式，可提高样品室内的压力，中和样品表面的电荷，能直接观察不导电样品。
观察含有少量油分或水分的样品以及释放气体、不易镀膜的样品也非常方便。
图像的搜索与打印
搜索图像窗口
在 Search image window 中能选择数据并方便地打印出来，还能调出保存好的图像的成像
条件（加速电压、灯丝电流、探针电流等）。
打印数据
在 Search image window 中选择感兴趣的图像，只需按下 Output images 按钮就可以方
便地打印出来。如果选择了多幅图像，系统会自动分配在每个页面上。
调出成像条件
JCM-6000Plus 能调出保存的图像的成像条件，只需选择感兴趣的图像，押下
Load observation conditions 按钮，系统就会再现成像条件，进行日常操作非常方便。
图像观察与测量
双帧显示
能并列显示实时图像和保存的图像，在下面的实例中，右侧显示低倍率图像及光学显微镜图像，在左侧利用实时图像对放大的图像进行确认，这样就能对当前的图像和保存的图像一边比较一边观察。
动态观察
JCM-6000Plus 能拍摄视 频，因而可以进行动态观察。很适合观察样品随时间的推移而发生的变化。
测长
JCM-6000Plus 具有测量两点间距离的功能，选择 Scaler 按钮后，自动按钮会切换到测长按钮，测量结果能保存在图像和csv 数据文件中。
元素分析
EDS 按下装置的分析按钮，就能开启 EDS 视窗。EDS 能支持定性/定量分析、点分析和元素面分析（确认元素分布）。
定性 / 定量分析
用 Image（图像）+ SPC（采集）两个按钮开始分析。数据采集结束后按下定量按钮，就会显示定量结果。
元素面分析（元素分布）
按下 Map 按钮后，图像的元素面分析开始。元素面分布结果会显示组成元素的二维分布。
援助复杂分析
Analytical Assistance（分析援助）功能可使元素面分布和线分析更加容易。
在 Analytical Assistance 视窗中选择感兴趣的分析后，所需作业步骤会按顺序显示出来。只需按照视窗中指示按钮的引
导，任何复杂的分析都能够顺利地完成。
点分析
在图像上设定多个分析点后，系统会按顺序自动分析各点上的元素并显示谱图。
分析结束后还能比较这些谱图数据。
线分析
在图像上测试的线上的元素含量的变化。
测试结束后还能改变元素。
探针追踪
进行长时间分析时，能保持分析位置的稳定。