日立 手持式 X-MET8000XRF光谱仪
产品简介
详细信息
概况
X-MET8000：快速可靠的法规遵从性筛查。
除了日立的台式分析仪之外,手持式X-MET8000XRF光谱仪还针对许多法规指令 （包括RoHS、CPSIA、ELV和EN71-3）提供快速、无损的筛选。轻便易用的X-MET会在几秒钟内给出结果。
X-MET8000具备的优点：轻巧易用,获取结果只需几秒
应用
手持式XRF光谱仪应用于QA/QC
手持式XRF光谱仪应用于材料可靠性鉴定
手持式XRF光谱仪应用于废旧金属回收
手持式XRF光谱仪应用于采矿
手持式XRF光谱仪应用于土壤重金属检测
手持式XRF光谱仪应用于合规性检测
手持式XRF光谱仪应用于镀层测厚
手持式XRF光谱仪应用于考古
手持式XRF光谱仪应用于贵金属和珠宝检测
-比较型号-
| X-MET8000 Expert | X-MET8000 Optimum | X-MET8000 Smart |
| X射线管：50kV | X射线管：40kV or 50kV | X射线管：40kV |
| 滤光片：6位滤光转换器 | 滤光片：6位滤光转换器 | 滤光片：单一 |
| 检测器：大面积 SDD | 检测器：大面积 SDD | 检测器：大面积 SDD |
| 样本温度：100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC（可选) | 样本温度：100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC（可选) | 样本温度：400ºC |
| 符合 IP54 等级 | 符合 IP54 等级 | 符合 IP54 等级 |
| Thick Kapton®窗口：保护以预防探测器的窗户损坏 | 可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护 | Thick Kapton®窗口：保护以预防探测器的窗户损坏 |
| 校准方法：自动跳转的经验系数法（可进行追溯） | 校准：基本参数法 （包括轻元素分析） | 校准：基本参数法(FP) |
| 内置摄像头 | 内置摄像头 （可选） | 内置摄像头 （可选） |
| 小光班准直器（可选） | 小光班准直器（可选） | |
| 针对所有元素，从镁到铀，的优先分析的六位滤光片 | 针对所有元素（从镁到铀）进行优先分析的六位滤光片 |