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一、仪器特点：

1.泰勒-霍普森非接触式轮廓仪CCI MP是一种高级的测量干涉仪（非接触式3D轮廓仪）。 它采用享有的新型关联算法，来查找由我们的精密光学扫描装置产生的干涉图的相干峰和相位。

2.CCI MP对于很多需要进行高精度3D轮廓分析的应用非常有用。 转台上可以同步装配各种各样的标的物，因而可测量多种类型的表面。 全自动的工作台和自动测量程序进一步增强了测量的灵活性。

3.泰勒-霍普森非接触式轮廓仪CCI MP具有功能多、用途广的优点。 反射率为0.3%至*的抛光表面、粗糙表面、曲面、平面或台阶面，都能使用一种算法进行测量，不需要为不同的表面改变模式，也不用担心会选择错误的 模式。 可测量的材料类型包括： 玻璃、液体墨水、光刻胶、金属、聚合物和糊剂。

二、仪器技术参数：

1.1048 x 1048像素阵列，视场广，高分辨率

2.经过改良的新型X、Y、Z拼接，量程多达100毫米

3.RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%

4.全量程埃级分辨率

5.多语言版本的Windows 7，64位软件

三、CCI光学装置：

无论对分析速度的要求有多高，创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。

CCI光学装置与光学研究人员和科学家的专业知识保持与时俱进，能满足光学领域的严苛测量要求。 CCI光学装置将强大的尺寸及粗糙度分析软件与的工程设计融于一体，是一种非常适合用于粗糙度测量的检验工具。 CCI*的薄膜厚度测量功能，进一步完善了为光学工业而设计的出色计量包装 。

1.2048 x 2048像素阵列，视场广，高分辨率

2.全量程0.1埃的分辨率

3.轻松测量反射率为0.3% - *的各种表面

4.RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%

5.多语言版本的64位控制和分析软件