功率器件动态参数测试系统DT10-华普通用
产品简介
详细信息
功率器件动态参数测试系统
专业测试SiC及Si基IGBT、MOSFET动态时间参数特性，测试范围可达3500V 4000A
l 3500V 4000A超宽测试范围
l 适用于全种类的功率器件
l 模块化设计，适应不同需求
l 可满足定制化需求
l 的测试性能
l 中文系统，用户友好性
l 高可靠性
动态测试项目
l 开通测试：Tdon、Tr、Ton、Eon
l 关断测试：Tdoff、Tf、Toff、 Eoff
l 栅极特性：Qg
l 反向恢复测试：Trr、Qrr、Irm、Erec
l SC：Idmax、Vdsmax
适用产品
l 兼容各种封装方式的：Si基，SiC基的各种功率器件单管及模块
项目 | 内容 | 平台设计值 | 备注 |
工作 环境 | 设备输入电压 | 220V | ±10% |
设备输入频率 | 50HZ | ±5% | |
设备输入电流 | <45A | / | |
驱动 电压 | Vge | Vgon=0~+30V可调 Vgoff=0~-30V可调（5V≤Vgon-Vgoff≤30V） | 通过计算机设定；精度±3% |
脉冲 宽度 | 单、双脉冲时间可调 | <4us（总时间） | 通过计算机设定 |
母线电压 | 波动范围 | ±3% | / |
功率回路寄生电感 | 寄生电感 | <15nH | / |
开关特性 | 开通特性 | Td(on): 5-400ns Tr: 5-400ns Ton: 5-1000ns Eon：1-500mJ | 1. Rgon/Rgoff=客户焊接电阻 2. 开通测试发双脉冲，脉冲时间在计算机输入，<4us（总时间） 3. 关断测试发单脉冲，脉冲时间在计算机输入，<4us（总时间） 4. 分辨率：0.1ns 5. 测试精度±5% |
关断特性 | Td(off)：5-400ns Tf: 5-400ns Toff: 5-1000ns Eoff: 1-500mJ | ||
二极管反向恢复特性 | 反向恢复 | Trr: 5-400ns Qrr:1nC~100uC Irm:0~400A Erec:1~500mJ | 1. 发双脉冲，脉冲时间在计算机输入，<4us（总时间） 2. 分辨率：0.1ns 3. 测试精度±5% |
SC | 关断电流Idmax 关断峰值电压Vdsmax | Idmax:0~6000A Vdsmax:0V~1500V | 1. 发单脉冲，脉冲时间<4us，脉冲时间在计算机输入 2. 分辨率：0.1ns 3. 测试精度±5% |
栅极特性 | 栅电荷 | Qg: 1nC~100uC | 1. 漏极电压50V~1500V 2. 分辨率：0.1ns 3. 测试精度±5% |
软件配置
l 采用labview上位机软件作为人机交互界面
l 画面显示内容包括：测试时间、被测器件条码、测试条件、测试结果、测试波形、测试数据记录等
硬件方案
i. 示波器采用力科HDO3104。
ii. 电压探头采用HVD3220。
iii. 电流探头采用SDN414同轴电阻。
测试数据示例
服务与支持
免费测样/软件更新/定期校准/完善培训