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μsurf custom NanoFocus μsurf custom光学轮廓仪(三维共聚焦表面测量系统/3D显微镜)

供应商:
上海巨纳科技有限公司
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袁经理 查看联系方式
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产品简介

µsurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。

详细信息

NanoFocus μsurf custom光学轮廓仪(三维共聚焦表面测量系统/3D显微镜)

 

品牌:德国NanoFocus

型号:μsurf custom

 

μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术,结合CCD的影像摄取,以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞,再将物镜垂直移动,以类似断层摄影方式,可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式,不会破坏样品的表面,不需要在真空环境下测量,也可以用显微镜测量的功能来观测样本,其在严酷的工作环境下,也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法,在测量渐变较大的高度时,跟其他方法相比,可以更精确量测物体高度,建立3D立体影像,优势相当明显。

NanoFocus μsurf custom三维共聚焦表面测量系统,可以根据客户的具体需求进行样品平台和软件的定制,功能齐全,可以自动测量,能精确捕捉样品的三维结构和微纳米尺度的复杂几何形状,并拥有超高光学分辨率和zui全面广泛的三维表面形貌分析处理能力。该机台还配备了整合计算机和测量系统的工作台,可以将一些测试报告等资料放在工作台的抽屉里,便捷可靠。

 

μsurf系列用来测量表面物理形貌,进行微纳米尺度的三维形貌分析,如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓(纵深、宽度、曲率、角度)、表面粗糙度等。

 

LED光源:λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h

测量时间:2~10

测量原理:非接触、共聚焦

X/Y方向:平台移动范围:100mmX100mm/200mmX200mm/300mmX300mm(大小可选),马达驱动,X/Y方向分辨率:0.3μm

Z方向测量范围:350μmZ方向分辨率:< 1nm

物镜:10X20X50X100X(可选)

离轴摄像头(10X),zui大视野8 x 6 mm2(选配)

计算机:高性能计算机控制系统,功能强大且全面的软件,有拼接功能

配有专业工作台:尺寸1550x800x750 mm (LxH)

工作电源:100-240V, 50-60Hzinput: 550 VA

材质:钢铁、橡胶、大理石

重量:约150KG+80KG

洁净室等级: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

 

设备咨询:

Ronnie Chen  +86-   +86-21-61533166  ronniechen@nanofocus.com.cn

 

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