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JT-2000比表面积及孔隙率分析仪

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JT-2000系列比表面积及孔径分析仪 型号:JT-2000P1/P2/P4/P6/P8/P12

请根据实际需求选择合适的型号，型号是根据分析站数量、脱气站数量来区别。

产品简介

JT-2000系列比表面及孔隙率分析仪是一款应用于介孔、大孔纳米材料的单/多分析站*自动物理吸附分析仪；对于微孔样品也能做简单分析。

JT-2000系列比表面积及孔径分析仪采用一体化设计，即脱气模块集成于仪器主机上，为实验室减少空间；同时其脱气模块和分析模块又相互独立，具有独立的气路系统、检测系统和真空系统，可以同时运行，互不影响，提高质量控制分析的检测速度；每个分析口配备独立压力传感器，独立的饱和蒸气压探测系统，在分析过程中实时监测饱和压力，确保数据的准确性。

比表面及孔隙率分析仪技术参数

1.分析方法：静态容量法

2.测试数据：比表面积≥0.0001m2/g，孔径分析0.35nm-500nm

3.分析精度：重复性±1%（≤1m2/g的样品：±1.5%）

4.分析站：1个样品分析口，1个P0实时测试位(分析站和脱气站数量可根据用户自行选择 1、2、3、4、6、8)

5.杜瓦瓶：3.5L大容量杜瓦瓶（可定制4L，用户自行选择）

6.吸附气体：各种惰性气体等

7.样品脱气站：单站式样品制备站，拥有独立控温系统及真空系统，温度上限400℃，配置独立机械泵，脱气站可与分析站同时工作，脱气时间和温度可在主机界面设置和更改

8.分析温度：除常用低温氮吸附外，还可选配等温夹套，进行0℃-60℃的气体等温吸附测试

9.硬件系统控制：

(1)    压力检测系统：分析口配置独立进口压力传感器,软件端可实时查看各位置压力值，饱和蒸汽压测试位配置独立的压力传感器，对饱和蒸气压进行实时采集

(2)    气路控制系统：应用真空抽气动态调速技术（I-PID）及集装式气路

(3)    分压范围：拥有独立的P₀分析口，P/P0 4×10^－7－0.995，Po分析口配有独立的压力传感器，以确保饱和蒸气压的实时数据采集

(4)    真空系统: 配置双级旋片机械泵，极限真空为4×10^－2Pa

(5)    液位控制系统：温差动态校准技术弥补传统液位传感器技术定位误差，可用于不同温度的冷却剂，使系统保持死体积小

(6)    数据采集系统：24位模数转换系统，拥有仪器意外断电数据存储功能

10.数据处理：BET比表面积/吸附及脱附等温线/BJH孔体积分析/孔面积分析/总孔容积/总孔面积/ Langmuir法比表面积分析/T-plot内外表面积及微孔体积/DR微孔面积及微孔体积/HK微孔分布/MP微孔分布等

11.其它：主机长550mm，宽550mm，高850mm；功率800W；工作电压220V