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物性测试仪器及设备表界面物性测试孔径分析仪/隙度分析仪

原子力显微镜/扫描探针显微镜

供应商:
北京超越世界科技发展有限公司
企业类型:
其他

产品简介

原子力显微镜(AFM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称

详细信息

原子力显微镜(AFM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作简单的新一代扫描探针显微镜。

新开发的可快速响应的HT扫描器加之软件与控制系统设计的优化,成功实现扫描速度比传统设备快5倍以上。

   

样品交换时也可保持激光稳定照射悬臂。照射稳定性优异,分析时间也大幅度缩短。

可从不同角度放大拉伸图像进行确认。鼠标操作简单,更可进行3D断面形状分析。
   

按照操作指南指导操作顺序,使用导航功能直接锁定观察位置,实现了SPM的快速简便的观察

具备丰富的测定模式和优异的扩展性,可对不同硬度、不同导电性能等各式样品进行观察分析。
 控制气氛扫描探针显微镜 WET-SPM
可以控制样品和周边环境,在可控气氛下进行样品处理,并直接进行SPM观察。

选配系统具有温度湿度控制单元、样品加热冷却单元、样品加热单元、吹起单元。
 粒度分析软件
从图像数据中选取复数颗粒,对每一颗粒进行特征量的计算,并进行分析、显示,以及及进行统计处理。

 超微小硬度计复合型SPM系统SPM+TriboScope(TriboScope为美国Hysitron公司产品) 可以进行极薄膜的硬度试验和压痕试验。
 微小部热分析试验仪器复合型SPM系统 SPM+nano-TA2(nano-TA2为Anasys Instruments公司产品)可以进行样品表面的三维形貌观察和点的热分析。

观察模式 标准

接触模式
动态模式
相位模式
水平力模式(LFM)
力调制模式
矢量扫描模式

选购件 磁力(MFM)模式)
电流模式
表面电位(KFM)模式
分辨率 XY 0.2 nm
Z 0.01 nm
AFM头部 位移监测系统 光源/光杠杆/检测器
光源 激光二极管(On/Off均可)
更换样品无需调整光路
检测器 光敏二极管
扫描器 驱动元件 管状压电元件
扫描范围
(X*Y*Z)
30μm×30μm×5μm (标准)
125μm×125μm×7μm (选购)
55μm×55μm×13μm (选购)
2.5μm×2.5μm×0.3μm (选购)
样品台 样品形状 φ24mm×8mm
样品装载方式 头部滑动机构
悬臂安装状态下可直接装载样品
样品固定方式 磁性固定
Z轴驱动机构 驱近方式 全自动驱近
可驱近范围 10mm
信号显示板 显示量 检测器的总入射光量(数字显示)
减震机构 减震台 SPM单元内置
光学显微镜观察 方式 分束器滑动机构
专用风挡 方式 无需或者使用气氛控制腔体
气氛控制 方式 无需改造SPM单元可直接导入气氛腔体
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