SEM磁性样品观察仓
产品简介
详细信息
描述
磁性样品扫描电镜（SEM）观察*的工具！
通过密封磁性物质，避免电镜部件被污染，实现磁性原始状态下的高分辨成像和成分分析。
- 适用性好。
适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜，亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。
- 使用简便
采用特殊的机械设计，样品安装1分钟内完成。
- 可灵活定制
可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。
- 分辨率高
放大倍率可达20万倍，可清晰观察小至10nm的颗粒。
描述
磁性样品扫描电镜（SEM）观察*的工具！
通过密封磁性物质，避免电镜部件被污染，实现磁性原始状态下的高分辨成像和成分分析。
适用于FEI、JEOL、Hitachi、ZEISS、TESCAN、Phenom等品牌各种型号的扫描电镜，亦可用于光镜/荧光显微镜的原位观察。
采用特殊的机械设计，样品安装1分钟内完成。
可将样品置于晶圆或生物芯片上进行原位观察。
放大倍率可达20万倍，可清晰观察小至10nm的颗粒。