UV400 / UVR400 日本yamari GaN外延生长温度计
产品简介
产品名称
GaN外延生长温度测量
型号
UV400 / UVR400
GaN外延生长温度测量UV400 / UVR400可以测量GaN缓冲层生长和MQW生长的温度。
详细信息
日本yamari GaN外延生长温度计
日本yamari GaN外延生长温度计
日本yamari GaN外延生长温度计
用法
- GaN膜温度测量
- 反射率测量
特殊长度
- 在蓝宝石晶片上生长的GaN外延层的温度测量
- 在常规的NIR测量中，使用UV光（400 nm）代替了晶片袋温度测量，以测量GaN的温度。
- GaN缓冲层生长和MQW生长的温度测量是可能的。
- 凭借高精度，您可以控制LED的发射波长。
- 它使用高灵敏度的PMT（光电倍增管）来保持良好的信噪比和稳定性。
- 在NIR测量中没有看到光干扰。
- 测量时间：从8毫秒/ 20毫秒/ 100毫秒中选择
- 距测量表面的距离：固定为73 mm
- 数字（RS485）和模拟输出
规格
| 温度范围 | UV400： | 650〜1150℃ |
|---|---|---|
| UVR400： | 温度： 650〜1150℃ | |
| 反射率测量： 0.000至1.000 | ||
| 检测波长 | UV400： | 中心波长： 400nm |
| 半宽： 50nm | ||
| UVR400： | 温度/ 中心波长： 400nm半峰全宽： 50nm | |
| 反射率测量/中心波长： 635nm半峰全宽： 2nm（或10％） |
基本系统配置图
Yamazato Sangyo Co.，Ltd.高温计销售部
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